中古 KLA / TENCOR P-170 #293799729 を販売中

KLA/TENCOR P-170は、半導体および先端材料の研究開発用に設計されたウェーハ試験および計測機器です。これにより、材料研究者は半導体および先端材料の電子的および構造的特性を迅速かつ正確に理解することができます。このシステムの中心には、ナノメートルスケールの解像度と高精度スキャナを組み合わせた新しい6軸統合スキャンプローブ顕微鏡（SPM）があります。この組み合わせにより、ウェーハの表面全体を単一のスキャンで複雑な測定を行うことができ、接触抵抗、地形、デバイス性能などの材料特性を迅速かつ詳細に分析することができます。また、低コヒーレンスレーザーソースを使用した高速3Dプロファイリングマシンと、カスタム設計されたハードウェアおよびソフトウェアプラットフォームを使用してウェーハ機能のプロファイルを数秒で取得することができ、ナノメートルスケール機能のインタラクティブなディテールと可視化のための貴重なツールを提供します。KLA P-170のその他の機能には、高度なチップ設計とレイアウト機能、統合計測アルゴリズム、温度に依存しないセルフテストルーチン、および強化された解析のための包括的な一連のソフトウェアが含まれます。直感的なグラフィカルユーザーインターフェイスは、ツールからデータを設定、実行、分析するタスクを簡素化し、経験豊富な初心者のユーザーも同様に最小限の労力で正確な結果を達成することができます。全体として、TENCOR P-170は長年にわたる業界をリードする研究開発に基づいて構築されており、半導体および先端材料に対する強力で信頼性の高い試験および計測機能をユーザーに提供しています。迅速なウエハプロファイリングから正確で詳細な気孔解析まで、P-170は材料の電子的および構造的特性に対する比類のない洞察力と解像度を提供します。