中古 KLA / TENCOR Optiprobe 3260 #9269306 を販売中

KLA / TENCOR Optiprobe 3260
ID: 9269306
Film thickness measurement system.
KLA/TENCOR Optiprobe 3260ウェハテストおよび計測機器は、半導体メーカーが最高レベルのチップ性能と信頼性を達成できるように設計されています。KLA Optiprobe 3260は、チップメーカーが次世代デバイスのパフォーマンスを迅速にテストおよび分析できるようにする、これまでにない一連の機能を提供します。TENCOR Optiprobe 3260は、強力で汎用性の高いウェーハテスターおよび計測システムです。独自の光学検査技術「光学パターン解析」を搭載し、これまで以上に高い精度でウェーハの欠陥を検査・解析することができます。このユニットは、光学および電気ウェハテストおよび計測の両方に使用できます。Optiprobe 3260は、チップテストプロセスを改善し、合理化するための高度な機能の配列を統合します。光学プロボビリティ測定や、重要なデバイスパラメータのパラメトリックテストなどの組み込みテスト機能など、独自の計測が含まれています。このマシンはまた、超低ノイズレベルで精度を向上させ、高速テストベクトルにより高いスループットを提供します。さらに、KLA/TENCOR Optiprobe 3260は、チップ設計プロセスを改善するためのさまざまな機能を提供します。このツールには、チップが非常に高い歩留まり率で製造されることを保証するために使用できる標準製造規則の高度なライブラリが含まれています。また、統合されたシリコンレビュー機能により、ウェーハ全体を検査して製造上の重要な欠陥を確認できます。KLA Optiprobe 3260には、チップ生産プロセス全体を改善するための他の機能も含まれています。これらには、アセットの校正にかかる時間を大幅に短縮できる高度な校正ライブラリと、機器内のすべてのテストモジュールに簡単にアクセスして使用できる汎用性の高いカルーセルモデルが含まれます。TENCOR Optiprobe 3260は、パフォーマンスと信頼性の向上、チップの生産時間の短縮、チップの歩留まりの向上を実現します。これは、可能な限り最も正確で費用対効果の高い方法でチップをテストおよび分析しようとする半導体メーカーにとって理想的なソリューションです。
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