中古 KLA / TENCOR M-Gage 200 #293744536 を販売中

KLA/TENCOR M-Gage 200は、集積回路やその他のマイクロエレクトロニクスデバイスに一般的に見られるさまざまな材料や構造を測定するために設計された半導体計測装置です。高解像度測定、正確なデータ取得、直感的なユーザーインターフェースに設計された高度な技術を使用しています。このシステムには、ピクセルエリアアレイセンサー、オンボード処理、および迅速なウェハレベル測定のための統合された光学モジュールが搭載されています。KLA M-Gage 200の設計は、多種多様なプロセスおよび表面特性を迅速かつ正確に測定することに重点を置いています。ピクセルアレイセンサーには、ブラインドビア、相互接続、トランジスタゲートの正確な測定を可能にする特別な光学モジュールが含まれています。この光学モジュールは、基板の厚さや材料の広い範囲に対応するために簡単に変更することができます。また、各構造や特徴の高解像度2次元画像を取得し、詳細な解析が可能です。このユニットは、1時間あたり最大50個のウェーハを検査および処理できる自動オンボード検査プロセスを備えています。また、高速統計解析機を搭載し、詳細な計測情報を提供しています。オンボードプロセッサはデータストレージを処理し、操作が簡単なユーザーフレンドリーなグラフィカルユーザーインターフェイスを備えています。TENCOR M-Gage 200には、ユーザーが測定および検査タスクをカスタマイズできるようにする高度なオートメーションツールとツールセットが含まれています。接触抵抗、厚さ、層数、はんだバンプなどのパラメータを測定することができます。ユーザーがカスタムレポートと分析を作成できるさまざまな入力と出力、およびソフトウェアツールを提供しています。このウェーハ検査および計測ツールは、プローブ、マスク、バイアステーブル、カスタムデザインのサポートツールなど、さまざまなアクセサリーも提供しています。このアセットには、高度なイメージング機能を備えた標準の10x光学顕微鏡モジュールが含まれており、ユーザーはウェーハを迅速かつ効果的に検査できます。さらに、このモデルには解析ソフトウェアパッケージが付属しており、分析プロセスを簡素化し、複数のレイヤーを迅速に分析できます。M-Gage 200は、複雑なウェーハレベルの検査と測定のために設計された信頼性の高い効率的なウェーハテストおよび計測機器です。高度な測定技術、高効率なオンボードプロセッサ、ユーザーフレンドリーなグラフィカルユーザーインターフェイスを備えているため、迅速で正確なウェーハ検査システムをお探しのユーザーに最適です。