中古 KLA / TENCOR / ICOS T830I #9378053 を販売中

KLA/TENCOR/ICOS T830Iは、半導体デバイス試験の業界標準を満たすように設計された最新のウェーハ試験および計測機器です。特許取得済みのブルーレーザー検査システムを搭載し、サブミクロンイメージングを使用してウェーハをスキャンおよび検査し、ウェーハ材料に存在する欠陥を検出します。赤外線（IR）とマルチスペクトルイメージングを組み合わせることで、試験対象物の光学的特徴と電気光学的特徴の両方を検出することができ、ユーザーに包括的なウエハ解析ソリューションを提供します。KLA T830Iは大量生産用に設計されており、高速バッチ時間と自動テストプロセスを提供します。また、KLAラインアップの他のシステムとの互換性を確保するためのアップグレード可能なファームウェアも備えています。専用のソフトウェアパッケージを使用すると、ICOS T830Iは、フットプリント、CDの均一性、ドーパント濃度、オーバーレイ、パターン欠陥など、さまざまなウェーハの問題を検出および分析することができます。さらに、このマシンは高度な欠陥検出および分類機能を備えているため、デバイスメーカーはウェーハ材料の欠陥、エラー、または汚染物質をよりよく理解して根絶することができます。また、エッチプロファイリング機能も備えており、ユーザーはウェーハの厚さと密度を調べることができます。さらに、このツールはユーザープロセスの特性評価のためのプラットフォームを提供し、デバイスの機能や製造プロセスの詳細な分析を可能にします。資産の運用とメンテナンスを簡素化するために、デバイスには人間工学に基づいたGUI（グラフィカルユーザーインターフェイス）が付属しています。直感的なユーザーインターフェイスは、モデルワークフロー全体を改善し、品質管理プロセスを強化するためのさまざまな制御および可視化ツールを提供します。レベル1と2の機器の動作は、システムのタッチスクリーンを介して処理することができ、レベル3のユニット機能は、マシンのワークステーションコンポーネントを介して動作することができます。T830Iは、生産歩留まりの向上とコスト削減を目指す半導体デバイスメーカーにとって理想的なソリューションです。ウェーハテストと計測機能の強力な組み合わせにより、高速で一貫した信頼性の高い結果を必要とする人に最適です。