中古 KLA / TENCOR / ICOS T830 #9227750 を販売中
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販売された
ID: 9227750
ウェーハサイズ: 12"
ヴィンテージ: 2015
Fully automatic inspection system, 12"
P/N: 0526600-000
xPVI: Top & bottom
3D Wave
Gull wing 3D inspection
Component height measurement on BGA
Component height caliber (11.25 x 11.25 x 1.2)
Component height caliber, TBD
SPC & Image review tool
Unit level traceability (Datamatrix)
OCR Verification on mark teach
Directional grouping
Advanced QFN2D/5S parameters
Advanced metrology
5-Lanes with (4) single reject trays
XY Automated dual row
Automated (4) inline sorting heads
Pocket integrity check
(5) Ionizer kits
(40) Pads, TBD
USB Barcode scanner
Vacuum pen kit
Tray orientation kit
(28) Nozzles
O-Ring, diameter 3.5 mm
Display, 22"
P/N: 0595046-000, Dent module
5S BGA/QFN Matrix mirror block
P/N: 0597136-000 System, OS test handler
P/N: 0602634-000 Kit, T8x0 OS docking
OS6 Conversion kit
P/N: 0616633-000 Upgraded T8x0R1, integrated tray bar code reader
Top DOL/FLB on IS2
P/N: 0613954-000 Kit, slim btm brushing, T8x0
P/N: 0603462-000 Kit, T8x0, light curtain
2015 vintage.
KLA/TENCOR/ICOS T830は、完全なウェハと個々のダイの両方でトランジスタ、抵抗、およびコンデンサを高精度に測定するために設計された高度なウェーハ試験および計測機器です。この設計により、単一トランジスタの非常に正確で再現性の高い測定が可能になり、マルチプレクサ、シフトレジスタ、ロジック機能などの複雑なデバイスのテストが可能になります。KLA T830システムには、フルフレームレートのビデオキャプチャ機能を備えた4Kデジタルイメージングを備えた統合シリアル高解像度カメラが付属しています。これにより、完全なウェーハおよび個々のダイ上の含有構造を正確に検査および測定することができます。最先端の設計には8インチの高速スキャンステージがあり、毎秒1200ダイまでスキャンできます。スキャンステージの10ミクロンの解像度は、完全なダイ表面を正確にキャプチャし、すべてのトランジスタタイプのオフアクシス、カンチレバー、およびダイバイダイ測定を提供します。さらに、その3次元デバイス測定は、単一および複雑な構造の両方の電流、電力、および電圧性能を特徴付けるために使用されます。ICOS T830ユニットには、パターン認識および画像処理モジュールが付属しており、高解像度ウェーハ画像の欠陥を迅速に分析、編集、検出するように設計されています。最新のイメージング技術を使用して、広範囲の回路機能を正確に特定して分類し、検出された欠陥を非常に正確かつ正確に診断することができます。さらに、TENCOR T830ツールは、強力なパフォーマンスモデリングおよび分析（PMA）機能も備えています。回路性能の予測と評価を支援する6つのモジュールは、設計規則、タイミング、電力、電流、電圧などを検査するための包括的なソリューションを提供します。これらの機能は、高度な可視化ツールと組み合わせて、さまざまな回路メトリクスのリアルタイム解析とオフライン解析の両方に使用されます。T830は、今日の市場で最も先進的なウェーハテストおよび計測システムの1つです。統合された4Kカメラ、強力なスキャンステージ、パターン認識器、および包括的なPMAパフォーマンスモデルにより、さまざまなアプリケーションに適したさまざまなデバイスを正確に分析、測定、診断する独自の機能を提供します。
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