中古 KLA / TENCOR / ICOS T830 #9186040 を販売中

KLA/TENCOR/ICOS T830ウェーハ試験および計測装置は、半導体製造に使用される半導体ウェーハおよびその他の部品の特性を測定するために設計された産業システムです。ウェーハ基板からナノスケール粒子まで、これらの部品の電気的および物理的特性を測定、監視、分析するための高度な分析技術とツールを使用しています。ユニットのモジュール設計により、さまざまな生産要件に適応し、部品の品質に関するリアルタイム情報を提供することができます。このマシンには、ウェーハや部品の表面を高解像度で画像化するための高度な顕微鏡画像技術が多数搭載されています。これにより、部品の要素組成と電気的およびプロセス性能を正確かつ信頼性の高い分析が可能になります。KLA T830には、光学顕微鏡、光計測装置、超高感度測定ツールなど、最先端の光学ツールが搭載されています。これにより、アセットは高精度で精度の高い部品表面特性を分析することができます。このモデルはまた、強力なデータ収集装置を備えており、自動データ収集に簡単に使用できます。ICOS T830は、分析とデータ収集を簡単かつ便利にする最新のソフトウェアツールの範囲と統合されています。システムのユーザーインターフェイスにより、ユーザーはニーズに合わせてユニットを簡単に構成し、分析およびデータ収集プロセスを制御することができます。ソフトウェアスイートには、生産と品質管理のための追跡とトレンド識別を提供するいくつかの専門的な分析ツールもあります。この機械のモジュール設計により、さまざまなスキャナや検査システムを含む外部ツールモジュールと効率的に統合できます。これにより、分析および製造プロセスのより良い制御が可能になります。さらに、TENCOR T830には、潜在的な問題や欠陥を特定して監視するための強力な品質管理ツールが装備されています。T830は、半導体製造プロセスを最適化し、品質管理を確実にするのに役立つ、効率的で費用対効果の高い資産です。その洗練されたモデルとソフトウェア機能により、信頼性が高く使いやすいです。モジュール設計と強力な統合解析ツールを備えたKLA/TENCOR/ICOS T830は、コンポーネントの品質を測定し、ウェーハテストと計測プロセスを最適化するための理想的な機器です。