中古 KLA / TENCOR HRP 350 #293610085 を販売中

KLA/TENCOR HRP 350ウェハテストおよび計測機器は、次世代のウェハテストおよび計測ソリューションです。最新の光学計測技術とレーザー技術を組み合わせ、最高レベルの精度と精度を提供します。このシステムは、厚さ、平坦度、コーティングの均一性などのウェーハパラメータの信頼性の測定を提供します。また、MEMSやLEDデバイスから半導体回路まで、幅広いウエハサイズや用途の測定が可能です。KLA HRP 350は高度な光学アライメントユニットを採用しており、高速かつ再現性の高い測定が可能です。これにより、ウェーハパラメータ値のわずかなバリエーションでも、マシンが正確に検出できるようになります。このツールは、さまざまな測定モードをすばやく切り替えるように設計されており、シリコン、GaAs、石英などのさまざまなウエハータイプをサポートできます。TENCOR HRP-350は、最大24個のウェーハサンプルを同時にテストできる高スループットのアセットです。これにより、より大きなロットサイズに対応するためにモデルを素早く変更できるため、時間とコストを節約できます。さらに、TENCOR HRP 350は、サンプル処理をさらに自動化するために、ビジョンベースのサンプル認識装置など、さまざまなアクセサリと連携するように構成することができます。光学計測機能に加えて、HRP-350はレーザープロファイリング機能を提供し、ウェーハの詳細な表面特性評価を可能にします。これには、表面の高さと粗さの値を測定する機能が含まれます。KLA/TENCOR HRP-350には、厚さ変化を測定するための独自のプロファイリングシステムも装備されています。KLA HRP-350は、幅広い欠陥検出アプリケーションにも適しています。欠陥検出カメラは、表面欠陥を識別し、仕様外の要素を監視するために含まれています。このカメラはまた、サイズや形状特性などの欠陥を正確に記述する高度な解析アルゴリズムを利用しています。全体として、HRP 350ウェーハテストおよび計測ユニットは、幅広いウェーハパラメータと欠陥を測定および特性評価するための完全なソリューションです。KLA/TENCOR HRP 350は、高度なオプティカル・アライメント、高スループット機能、汎用性の高いアクセサリ・オプションにより、あらゆるウェハおよび半導体試験および計測アプリケーションに最適です。