中古 KLA / TENCOR HRP 340 #9261848 を販売中

KLA/TENCOR HRP 340は、さまざまな半導体製造用途において、層厚、膜厚、平坦度、粒度、欠陥密度を高精度に測定するために設計された高度なウェーハ試験および計測装置です。典型的な半導体プロセスでは、KLA HRP 340はウェーハ表面の精密な測定をリアルタイムで行い、正確な品質管理と製品改良のための高精度な結果を提供します。TENCOR HRP 340は、基板表面の堆積膜の厚さ、ウエハの平坦度、粒度および組成、表面欠陥の存在と密度、オーバーレイ精度、電気特性、およびその他のパラメータを測定します。さらに、HRP 340はタイムリーな統計、分析、結果、カスタマイズされたレポートを提供し、製造メーカーがプロセスのバリエーション、傾向、異常を特定できるようにします。KLA/TENCOR HRP 340は、優れた性能と精度を提供するために革新的な技術とエンジニアリングを利用しています。KLA HRP 340は、光検出システムと広いダイナミックレンジを備えており、さまざまな特性を信頼性と一貫した方法で正確に測定および定量することができます。TENCOR HRP 340はさらに高度な画像処理機能を備えており、ウェーハのより正確な測定と分析を可能にします。さらに、ウェーハ表面に粒子汚染がないように、堅牢な自動洗浄アルゴリズムを備えています。HRP 340は、3次元NAND細胞製造などの高度な半導体プロセスを含む幅広い用途を持つ、強力なウェーハ試験および計測機です。このツールは、主要な性能特性の高精度な測定を提供し、信頼性の高い高品質の半導体製品の生産を保証します。KLA/TENCOR HRP 340は、高度な光検出資産、画像処理能力、堅牢な洗浄アルゴリズムにより、製造メーカーがプロセスを最適化し、品質と信頼性の管理を維持することができます。