中古 KLA / TENCOR FT-750 #9200113 を販売中

KLA/TENCOR FT-750は、大量の試験およびプロセス制御用に設計された高性能ウェーハ試験装置です。KLA FT-750は、高度な半導体産業のための包括的なウェーハテスト、計測、およびプロセス制御ソリューションを提供します。このシステムは、高度な光学技術を提供し、ウェーハ表面の欠陥を高精度で迅速に識別し、リアルタイム欠陥および歩留まり解析を含む幅広いプロセス制御機能を統合します。TENCOR FT 750は、高速、高精細イメージングおよび高度な欠陥検出アルゴリズムを備えており、欠陥の迅速かつ正確な検出と分類が可能です。このユニットは、最速かつ最も正確なテスト機能を提供する最新世代のハードウェアとソフトウェアを搭載しています。このマシンには、簡単かつ効率的な操作のための高度なインタラクティブなユーザーインターフェイスと、包括的な欠陥検出および分類サポートを提供する広範な欠陥分類アルゴリズムが含まれています。このツールはKLA Family of Process Control and Managementソフトウェアと統合されており、迅速なプロセス制御監視、およびリアルタイムの欠陥および歩留まり分析を提供します。また、OptiMapTMテクノロジーは、ウェーハの処理と分析を支援する自動プロセス制御モデルです。また、TENCOR FT-750は、複数の製品ラインと生産ロットにわたるプロセス制御を改善するための自動データ分析とレポートを提供します。KLA FT 750には、ユーザーがテストを素早くセットアップし、可能な限り短時間で正確な結果を得ることができる、幅広いユーザビリティ機能が搭載されています。この装置は、ウエハローディング、温度制御、アライメントなどの高度なオートメーションを提供します。また、幅広いウェーハ計測システムとの完全な統合と互換性を提供します。最後に、FT-750は人工知能エンジンを内蔵した予測解析機能を提供し、より効率的で正確なプロセス制御を可能にします。要約すると、KLA/TENCOR FT 750は、高度で効率的なウェーハテストおよび計測ユニットであり、さまざまな統合されたオートメーション、計測、およびプロセス制御機能を備えており、迅速かつ正確な欠陥の識別とプロセス制御に単一の効果的なソリューションを提供します。