中古 KLA / TENCOR FT-750 #9155148 を販売中
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ID: 9155148
Wafer thickness measurement system, 4"-8"
Voltage: 115 V
Frequency: 50/60 Hz
Current: 1250 W
2000 vintage.
KLA/TENCOR FT-750は、半導体ウェーハおよびデバイスの検査に使用される高精度ウェーハ試験および計測機器です。欠陥検査、デバイス測定、およびウェーハの種類とサイズの様々な層の厚さ測定を提供します。KLA FT-750は、広域検出器とサブミクロン分解能を備えた強力なZeiss光学システムを備えているため、ウェーハや半導体デバイスの最も顕微鏡的な機能を検査するという困難な作業に最適です。TENCOR FT 750は、高速で高精度なビーム位置決めユニットを使用して、欠陥、不純物、汚染物質、欠陥など、ウェーハまたはデバイス上の幅広い機能をスキャンします。さらに、このマシンには、真空ウェーハカセットや自動アライメントツールなど、ノンストップで自動化されたテスト用のさまざまなオートメーションツールが装備されています。FT 750の強力な自動マルチパラメータ計測ツールにより、ウェーハやデバイス上のレイヤーの膜厚、速度、抵抗を正確に測定できます。これにより、ハイテク機器の最も厳しい仕様が満たされます。さらに、KLA/TENCOR FT 750は、0。5 µm以下の光学分解能を含む最先端の目視検査機能を提供します。FT-750は、直感的なソフトウェアや人間工学に基づいたキャビネットなど、多くの高度な制御技術を備えています。アセットに内蔵された電子校正モデルは、定期校正とメンテナンスのプロセスを簡素化します。この装置は、最大500個のパラメータを一度にキャプチャおよび分析することができ、最も強力で効率的なウェーハテストシステムの1つです。結論として、KLA FT 750ウェーハ試験および計測システムは、ウェーハおよび半導体デバイスの品質をテストおよび監視するために利用可能な最高の精度と精度を提供します。強力な自動マルチパラメータ計測ユニットと最先端の目視検査機能により、ハイテク機器の最も厳しい仕様を満たしています。
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