中古 KLA / TENCOR FT-750 #9132987 を販売中

KLA / TENCOR FT-750
ID: 9132987
Film thickness mapping system.
KLA/TENCOR FT-750は、優れた性能と信頼性を提供するように設計された最先端のウェーハ試験および計測機器です。高速読み出しと高精度マニュアル制御による高解像度光検査を採用し、表面欠陥の正確な検出、ダイサイズの測定、フロントとバックサイドのアライメント検証が可能です。KLA FT-750は、高度な技術の統合により、その優れた性能を達成しています。広いスペクトル感度を備えた高分解能の光学センサは、非常に詳細で正確な表面測定を可能にします。また、高速スキャンモータと広いダイナミックレンジのフォトディテクタを搭載し、幅広いウェハサイズの高速測定を可能にします。さらに、TENCOR FT 750は、優れたビジョンカバレッジのための完全な360度の画像取得が可能です。KLA/TENCOR FT 750ウェーハテストおよび計測機により、誤検知を低減し、微細な表面欠陥を検出し、かつてない精度でダイサイズを測定できます。最先端のCCDカメラと独自のソフトウェアアルゴリズムを組み合わせたこのツールは、低照度でも非常に小さな欠陥を検出することができます。その高度な自動位置決めと追跡は、一方で、迅速かつ正確なダイ配置とフロントサイドのアライメント検証のためのサイクルタイムの短縮を可能にします。FT-750はまた例外的なプロセス制御機能を提供します。オンボードソフトウェアを使用すると、ユーザーは以前の測定値を標準、カスタム、またはユーザー定義の測定値と比較して、迅速かつ正確な結果を得ることができます。また、包括的なデータ解析により、ウェハレベルの欠陥分析を信頼性と再現性に優れています。全体として、KLA FT 750は、優れた性能と信頼性を提供する高度なウェーハテストおよび計測モデルです。統合された光学検査、高速スキャンモータ、CCDカメラ、組み込みソフトウェアアルゴリズムが組み合わされており、あらゆるウェハサイズの正確で高速な結果を最大限の精度で保証します。さらに、優れたプロセス制御機能を備えているため、欠陥を迅速に分析し、測定値を比較して信頼性の高い再現性のあるウェハレベルの欠陥解析を行うことができます。
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