中古 KLA / TENCOR FT-750 #293750959 を販売中

KLA/TENCOR FT-750ウェーハテストおよび計測機器は、高密度の薄型ウェーハデバイスを検査およびテストするための汎用性の高い、自動化された完全な計測プラットフォームです。KLA FT-750システムは、現在の半導体産業における高度なIC設計およびデバイス製造プロセスで使用するために設計されており、優れた精度、精度、およびスループットを提供します。この堅牢で拡張性の高いユニットは、スループットとコストを最適化し、テスト時間の短縮と製品歩留まりの向上を可能にします。TENCOR FT 750マシンは、薄膜IC、薄膜層、および高度なICのその他の機能のテストおよび分析において最高品質を保証するために、さまざまな計測ツールを使用しています。これには、特徴深さと直径を測定する強力な2D光学プロファイラ、線幅と最小線のエッジ粗さ（LER）を測定するCD-SEM顕微鏡、表面形状を測定する原子力顕微鏡が含まれます。また、TENCOR FT-750は、電気画像力顕微鏡（EIFM）やケルビンプローブ顕微鏡など、さまざまな高分解能プロービング技術を駆使して、デバイス特性をサブサーフェスレベルで測定しています。高度な計測機能に加えて、FT 750はテストと計測プロセスを高速化するための多数の機能を提供します。自動検査ツールは、データ分析のプロセスを合理化することでスループットを向上させ、デバイスの自動アライメント機能は手動アライメントの必要性を排除し、歩留まりを向上させます。ツールのファームウェアは、より高速で正確なテスト結果を提供するために、新しいリリースで更新することもできます。使いやすく直感的なユーザーインターフェイスを備えたKLA FT 750は、非常に柔軟で信頼性が高く、生産性の高いウェーハテストと計測資産です。オペレータは、フリップチップデバイス、オプトエレクトロニクス、MEMSなど、さまざまなデバイスの種類やアプリケーションに対応するために、さまざまな構成を作成することができます。ユーザーは、可能な限り正確な結果を得るために、フィーチャーのサイズと公差、デバイスジオメトリ、サンプル構成などのパラメータを選択できます。全体として、KLA/TENCOR FT 750は、ウェーハテストと計測に最高レベルの精度とスループットを提供します。優れた画質、拡張性、使いやすいユーザーインターフェースにより、IC開発や製造に最適なモデルです。計測ツール、自動特性、デバイスのアライメント機能を組み合わせることで、試験および計測プロセスに大幅な効率が向上し、テスト時間の短縮と製品歩留まりの向上を実現します。