中古 KLA / TENCOR FLX-2908 #293587318 を販売中

KLA/TENCOR FLX-2908は、幅広い半導体パラメータを測定および監視するために使用される「ウェハテストおよび計測」装置です。このシステムには、デバイスの性能を検証するための正確で信頼性の高いツールを提供することを目的として、さまざまな半導体プロセスおよび基板のテストおよび測定を処理するように設計された多数のモジュールが含まれています。KLA FLX-2908ユニットは、高解像度のイメージングマシンを使用してウェーハ表面の画像をキャプチャし、その特徴と組成に関する正確で詳細な情報を提供し、さまざまな幾何学的方向に精密で専門的な測定を行うことができます。付属のFTIR分光モジュールは、厚さやパッシベーション層の均一性、材料組成、抵抗など、ウェハテストのさまざまなパラメータを測定します。TENCOR FLX 2908ツールには、体積欠陥および体積欠陥検出のための高度なアルゴリズムが装備されています。これらのアルゴリズムは、テクスチャと発光マップの評価と材料の光学特性の検証に基づいています。さらに、アセットを設定してウェーハを最高速度でスキャンできるため、生産中に大量のウェーハをテストするのに最適です。TENCOR FLX-2908の特性は、各ユーザーとプロセスの個々のテスト要件を満たすように調整することができます。付属の材料資格ツールボックスは、結果が望ましい基準と一致することを保証するのに役立ち、必要に応じて設定をすばやく調整することが容易になります。KLA/TENCOR FLX 2908はデータトラッキングも可能で、ユーザーは過去のテストの結果を保存して分析することができます。これにより、異なるテストを比較し、プロセスの進捗状況を効率的に追跡することができます。さらに、結果は分析のために容易にアクセスでき、データベースの意思決定に使用できるため、ユーザーはウェーハプロセス全体をより効果的に管理できます。全体として、FLX-2908は半導体の開発と生産に関わるすべての人にとって非常に貴重なツールであり、幅広い材料とプロセスをテストおよび監視するための使いやすく高品質なソリューションを提供します。堅牢性と柔軟性を兼ね備えたこのモデルの強力な機能は、あらゆるウェーハテストおよび計測要件に最適です。