中古 KLA / TENCOR F5x #9270988 を販売中

KLA/TENCOR F5xは、半導体やその他のウェハベースのコンポーネントの精密性能を可能にするように設計された高性能ウェーハ試験および計測機器です。このシステムは、特許取得済みのハイスループットサーボフィーダ、スキャン光学計測、高周波レーザー測定、パターン認識および欠陥検出のための高度なソフトウェアなど、多くのコア技術とコンポーネントを中心に構築されています。KLA F5xの中心には、数千個のチップを自動的に数秒で検査する強力な光学ユニットがあります。TENCOR F 5 Xは、最大直径250mmまでの優れたスループットを実現します。このツールはまた、超音波検出を備えており、サブミクロンレベルまでの非破壊欠損分析を可能にします。さらに、KLA/TENCOR F 5 Xには、ウェーハプラットフォームを迅速に再配置してウェーハをスキャンし、表面の高さと欠陥位置をナノメートル精度で正確に測定する特別に設計されたカンチレバーウェーハ検査ヘッドが含まれています。また、検査ヘッドにより、KLA F 5 Xはウェーハ表面のピットやピットなどの欠陥を正確に識別することができます。この資産は、検査プロセス中に撮影された画像を分析するために高度なビジョンと画像セグメンテーション技術を利用しています。この技術は、ウェーハのパターンを識別するのに役立ち、オープン回路やショート回路などの欠陥を微細なレベルでも検出するのに役立ちます。最後に、TENCOR F5xは独自のソフトウェアを使用してコンピュータモデルとインタフェースし、結果を分析して包括的なレポートを作成します。全体として、F 5 Xは最先端の機器であり、ウェハベースのコンポーネントに対して高精度の試験と計測機能を提供します。優れた光学システムであり、検査ヘッドは欠陥識別のためのナノメートル精度を提供し、高度なソフトウェアはウェーハデータの完全なレポートと分析を提供します。F5xは、先進部品の開発と試験において、エンジニアや半導体メーカーにとって貴重なリソースを提供します。