中古 KLA / TENCOR Candela CS10 #293628472 を販売中

KLA/TENCOR Candela CS10 Wafer Testing and Metrology装置は、半導体ウェーハの電気的性能を検査、分析、測定するための自動システムです。このユニットは、製造上の欠陥を0.08µmのように小さく検出することができるため、高度な半導体加工や高度なデバイス製造に最適なツールです。KLA CANDELA CS-10は、高解像度の光学顕微鏡、ビジョンマシン、および統合された測定および分析ツールを含む複数のコンポーネントで構成されています。光学顕微鏡は、ウェーハ表面の正確な画像をキャプチャするために、標準、長さ、ズーム、テレセントリックレンズを含む様々なレンズを使用しています。レーザー照明とコントラスト技術を使用して、ウェーハ内の亀裂やピットなどの小さな欠陥を特定します。TENCOR CANDELA CS 10のビジョンアセットは、顕微鏡で撮影した画像を解析し、ウェーハに関する3次元情報を提供します。これは、その強力なパターン認識アルゴリズムによって有効になります。これにより、ピットサイズ、向き、形状など、さまざまなパラメータをテストできます。KLA/TENCOR CANDELA CS-10の統合された測定および分析モデルは、複数のイメージング機能を利用してウェーハの電気的性能を測定します。電圧、電流、複雑なインピーダンスなどの電気特性を測定することができます。また、高周波、低周波信号、高出力、高コントラストを測定できます。また、ウェハの熱性能を測定することができ、高出力信号を測定する際に正確な温度を提供します。イメージング機能に加えて、Candela CS10はユーザーがデータを保存、分析、転送できる堅牢なデータストレージ機器を備えています。従来のハードドライブと高速半導体ストレージシステムの両方を備えており、大量のデータに素早くアクセス、分析、保存することができます。CANDELA CS-10は、複雑な半導体デバイスの性能を分析および測定するための貴重なツールです。現在入手可能な最高精度と最高解像度を提供しており、高度なプロセスおよび無線周波数製造に最適なツールです。CANDELA CS 10は、多数のコンポーネント、強力なパターン認識と測定機能、堅牢なデータストレージユニットを備え、半導体デバイスの製造とテストを最適化するための強力で汎用性の高いツールです。