中古 KLA / TENCOR Candela C2 #9277067 を販売中

KLA/TENCOR Candela C2は、ウェーハスキャン、テストおよび検査、イメージング機能を1つの統合プラットフォームに統合した高度なウェーハテストおよび計測機器です。KLA Candela C2システムは、半導体デバイス製造のための最適化された試験および測定ソリューションを提供します。TENCOR C2ユニットは、半導体デバイス製造業界の厳しい要件を満たすように設計されています。高精度の試験および計測機能により、電気的および光学的特性、欠陥密度、およびトポグラフィーなどのウェーハ特性の正確かつ信頼性の高い特性が保証されます。自動化されたハンドラー、自動化されたウェーハプローバー、光学顕微鏡、走査型電子顕微鏡で構成され、あらゆるウェーハアプリケーションで高精度の測定が可能です。自動化されたウェーハプローバは、最大38個のウェーハを順番にテストでき、幅広いプロービング機能を提供します。TENCOR Candela C2マシンの光学顕微鏡は、5つの異なるイメージングモードで高解像度のイメージング機能を提供し、欠陥マッピングとプロセスの品質管理に使用できます。統合された走査型電子顕微鏡は、0。1ミクロンの解像度までのウェーハの正確な測定を可能にします。また、エネルギー分散型X線分光計（EDS）も搭載しており、材料組成を分析することができます。最後に、アセットは干渉計、散乱計、表面プロファイルなどの一連の計測プラットフォームに接続され、デバイス構造のより詳細なプロビジョニングを可能にします。C2は、その信頼性と高性能、および変化する試験および計測要件に適応する能力で有名です。バーコードウェーハトラッキング、自動化されたデータ処理、リモートアクセスなどのいくつかの機能からも利点があり、ユーザーはどこからでも操作を監視できます。全体として、KLA/TENCOR C2モデルは、ウェーハ特性を正確かつ確実に特徴付けることができる印象的なオールインワンウェーハ試験および計測機器です。その統合された設計、高精度、および幅広い試験および計測機能により、半導体デバイスメーカーにとって理想的な選択肢となります。