中古 KLA / TENCOR Candela C2 #293809884 を販売中

KLA/TENCOR Candela C2ウェーハ試験および計測装置は、半導体ウェーハの高度な表面および地形特性評価用に設計された高精度で自動化されたシステムです。当社独自のNCP （Non-Contact Profilometry）およびScanning Electron Microscopy （SEM）を搭載し、シングルデバイスおよびマルチデバイス機能を提供し、これまでにない精度と高速でウェーハの重要な地形特性を識別できます。KLA Candela C2の中心には、KLA NCPマシンとSEMがあります。NCPツールを使用すると、XYスキャンの解像度0。1umまでの精度で、地形データを高精度、動的、非接触でキャプチャできます。その後、NCPデータはSEM資産によって利用され、より高いレベルの詳細を提供し、重要な地形特性の分析と周囲の特徴の検証を可能にします。詳細な特性評価に加えて、TENCOR C2はウェーハテストと計測プロセスをより効率的にするために設計されたさまざまな機能を提供します。このモデルには、異なるサイズと形状の特徴を迅速に検出して特徴付けるように設計された高解像度測定装置が装備されています。この効果的なフィーチャーハンティングシステムは、強力な画像解析スイートと相まって、各機能の詳細な特性評価を提供します。さらに、KLA/TENCOR C2には強力な自動画像登録ユニットが装備されており、複数のウエハの地形特性を正確かつ迅速に見つけて比較できるように設計されています。このオートメーションマシンは、大規模なウェハレベル分析を効率的に実行する方法を提供します。KLA C2ウェーハテストと計測ツールは、高度な半導体ウェーハ特性評価のための包括的なソリューションを提供します。本アセット独自のNCPモデルは、SEMの高速性と精度を兼ね備えており、これまでにない精度と速度で、ダイナミックで非接触な表面と地形特性を実現します。自動化された画像登録とフィーチャーハンティング装置により、システムのパフォーマンスがさらに向上し、複数のウェーハを効率的に大規模分析できます。C2は、半導体ウェーハの開発とテストにとって非常に貴重なツールです。