中古 KLA / TENCOR Candela 8600 #9311388 を販売中

KLA/TENCOR Candela 8600は、半導体製造用に設計されたウェーハ試験および計測機器です。高度な光学ユニットを採用し、高解像度、高速測定が可能です。フロントサイドとバックサイドの両方のウェーハ表面で迅速な欠陥検出と分類が可能です。10軸コンピュータ制御のウェーハステージを備え、幅広いウェーハ径と種類に対応しています。高解像度カメラ（2。3メガピクセル）を搭載しており、最大400 x 400 nmの解像度でウェハースキャンが可能です。検査速度は低速から超高速まで調整可能で、測定値は高精度で再現性があります。KLA Candela 8600は、4次元インライン顕微鏡、ワイヤグリッドイメージング、電子ビーム技術を組み合わせることができるKLA超高速C8Tイメージングプロセッサを搭載しています。これにより、ツールは信じられないほどの速度で欠陥を検出して分類することができます。また、C8Tプロセッサによって使用される高度な画像処理アルゴリズムにより、欠陥高さマッピング、2次元形態解析、従来の電気試験など、幅広い自動および手動解析ツールが可能になります。このアセットは、包括的なエンドツーエンドのウェーハテストおよび検査ソリューションを提供するために、他のTENCOR計測システムと接続することができます。また、オペレータの利便性と合理化されたワークフローのための直感的なユーザーインターフェイスも備えています。さらに、このモデルは、高度な光学およびイメージング機能の広い範囲を提供しています。これらには、自動欠陥認識アルゴリズム、光場深度範囲モニタ、および任意の時点で最大60ギガピクセルの画像を保存および分析する機能が含まれます。また、半導体ウェーハ、太陽電池、その他の大型基板の検査に最適なサンプルサイズのカバレッジ（最大5インチ）を備えています。全体として、TENCOR Candela 8600ウェハテストおよび計測システムは、半導体の製造検査および分析のための印象的なツールです。強力なプロセッサ、高度な光学ユニット、ユーザーフレンドリーなインターフェースを備えており、高精度で再現性の高い測定を印象的な速度で提供します。