中古 KLA / TENCOR Candela 6100 #293610124 を販売中

KLA/TENCOR Candela 6100は、半導体ウェーハの特性を正確に測定および分析するために設計されたウェーハ試験および計測システムです。光学計測とレーザー計測の両方の技術を利用して、拡張欠陥トポグラフィ、対称性、粒度と分布、光反射率、平坦度、オーバーレイ精度など、さまざまな重要な指標を決定する高度なシステムです。このシステムは、レーザー干渉計とイメージングモジュールの2つの主要コンポーネントで構成されています。レーザー干渉計はレーザー光のビームを使用して、サブナノメートルの精度でウェーハの地形を測定します。6nmまでの解像度で詳細な欠陥地形画像を提供することができます。イメージングモジュールは、高感度CCDカメラと高度なパターン認識アルゴリズムを組み合わせて、ウェーハ表面から画像を取得します。このモジュールにより、欠陥の形状や構造など、ウェーハの空間的および表面的特性を可視化できます。さらに結果の精度を高めるために、KLA Candela 6100には強力なデータ分析ツールが装備されています。レーザー干渉計とイメージングモジュールの両方のデータをオンサイトで統合して分析し、計測ベースのテストの結果を文書化する包括的なレポートを作成できます。このレポートは、異常を特定して診断し、生産プロセスに必要な調整を行うために使用できます。TENCOR Candela 6100は、ウェーハテストと計測に有効なツールです。そのハイテクなコンポーネントと強力な分析機能により、ユーザーはウェーハの特性とパターンを高精度で詳細に測定できます。これにより、製造されたすべてのウェーハが仕様内に留まり、最高の生産基準を満たすことができます。