中古 KLA / TENCOR Candela 6100 #293597435 を販売中

ID: 293597435
ヴィンテージ: 2007
Optical surface analyzer 2007 vintage.
KLA/TENCOR Candela 6100ウェーハ試験および計測装置は、集積回路の電気特性を測定する半導体製造プロセスで使用されるツールです。自動化されたハイスループットウェーハテストと計測プロセスを提供し、トータルサイクルタイムを短縮し、試験速度と精度を向上させます。システムの主な構成要素は、オンウェーハ計測ヘッド、計測エレクトロニクスPOD (MEP)、キャリアベース計測ユニット(CMS)、サードパーティ製オートメーションアッパーです。オンウェーハ測定ヘッドは、電気特性を測定するためにウェーハと物理的に相互作用する機械の部品です。これには、測定プロセス中に所定の位置に保持されるプローブが含まれ、ウェーハが適用されるために適切に配置されるようにします。Measurement Electronics PODは、制御された環境で動作し、ウェーハ上の測定ヘッドからのデータを収集、フィルタリング、分析する主な機器です。一方、キャリアベースの測定機は、同じサイクルで複数のウェーハからの測定結果とテスト結果を統合し、データ比較と分析を提供し、製造業者がプロセスを最適化するのに役立ちます。最後に、Semiconductor Acceleratorなどのサードパーティのオートメーションアッパーにより、製造メーカーはKLA Candela 6100を生産プロセス全体に統合して効率を最大化することができます。このツールは、高度なタイミング測定、アクティブノイズキャンセル、超低電圧制御、低電流評価、高度な幾何学的解析、高速比較などの機能を備え、優れた試験速度と精度を提供するように設計されています。また、無線周波数やデジタルデバイスなど、デバイスのテストを強化するために最適化されています。これにより、半導体製造およびチップ生産における歩留まりおよびプロセス制御を特定し、確実にするための理想的なツールとなります。TENCOR Candela 6100は汎用性と拡張性に優れた資産で、幅広いウエハサイズとテクノロジーに最適です。自動テストと継続的なデータ収集のための内蔵容量により、再テストサイクルの数を減らし、製品の最適化を迅速化できます。さらに、モジュール構造は信頼性と拡張性を高め、将来の技術要件のプラットフォームとして機能します。要するに、Candela 6100は、ウェーハ製造プロセスを最適化するために設計された強力なウェーハテストおよび計測モデルです。幅広いウェーハサイズと技術にわたって高速で正確な測定を提供し、歩留まりとプロセス制御を向上させるための信頼性の高いツールです。その高度な機能、高スループット、スケーラビリティにより、半導体製造において信頼性と価値の高いツールとなります。
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