中古 KLA / TENCOR AS-250 #293609691 を販売中

KLA/TENCOR AS-250 Wafer Testing and Metrology装置は、集積回路やその他のマイクロスケール部品の幅広い属性を測定するために設計された高精度の機器です。KLA AS-250は、高度なソフトウェアとハードウェアを使用して、薄い半導体ウェーハをスキャンして測定します。このシステムは、シリコン表面の欠陥を迅速かつ正確に検出するように設計されており、適切なプロセスパラメータを決定するために迅速かつ効果的な調整を行うために、エンジニアを処理するための貴重なフィードバックを提供します。TENCOR AS 250ユニットは、ペースト厚、レイヤーカバレッジ、パーティクルサイズと形状、薄膜厚、ラインエッジ粗さなど、さまざまな試験が可能です。この機械は高い数値の開きおよび調節可能な分極の角度が装備されていて、結果の正確さそして再現性を保障します。このツールは、高感度CCDベースのイメージングモジュールと直感的なユーザーインターフェイスを備えています。大容量メモリと高度な信号解析技術を搭載したソフトウェアは、高速かつ効率的なウェーハテストを提供します。また、インラインメトロロジーツールも含まれており、統合チップやその他のコンポーネントの表面地形に関連するさまざまなパラメータを測定できます。TENCOR AS-250は、半導体製造業の要件を満たすためにも構築されています。人間工学的に効率的に設計されており、プロセスエンジニアが人為的ミスを排除する環境で簡単に資産をナビゲートできる快適な環境を提供します。KLA AS 250は、統合された環境保護フィルターや防塵エンクロージャなど、多くの重要な安全機能を提供しています。このモデルは、安全性、効率性、精度に関する最新のグローバルスタンダードを満たすように設計されています。結論として、AS-250ウェーハテストおよび計測機器は、薄い半導体コンポーネントの特性を正確かつ再現的に測定するために設計された強力なツールです。AS 250は高速かつ優れた測定精度で、半導体製造に必要な精度と信頼性を提供します。さらに、直感的なユーザーインターフェイスと高度な安全機能により、非常にユーザーフレンドリーで、一貫した操作と結果を保証します。