中古 KLA / TENCOR Alpha Step 500 #9181207 を販売中

KLA/TENCOR Alpha Step 500ウェーハテストおよび計測機器は、表面計測および欠陥レビューアプリケーション向けに業界をリードするプラットフォームを提供します。最先端のシステムはコンパクトで省スペースで、効率的な半導体ウェーハ試験が可能です。KLA Alpha Step 500は、汎用性と信頼性を兼ね備えた包括的で統合されたユニットで、多数のウェハテストと表面計測機能を実行します。高度に自動化されており、最大4インチの直径ウェーハのテストが可能です。高度な光学ヘッドおよびイメージセンサーにより、ゲート酸化物、ゲートマスク層などの重要な半導体表面機能を検出および検査し、欠陥検出、幅/奥行き測定、物理的な上面解析をサポートします。また、予測パターン解析のための高度な統合データ解析、理想的でないスキャン応答のリアルタイム補正、および自動欠陥フラグ付けおよび降順機能も提供します。これらの機能により、アセットの測定機能が強化され、テスト結果の最高精度と再現性が保証されます。さらに、TENCOR ALPHASTEP 500のIntelligentWafer™オプションにより、迅速なウェーハの読み込み、登録、マッピングのための自動ウェーハ認識が可能になります。このモデルの直感的なユーザーインターフェイスにより、ユーザーは画像と測定の両方で問題を簡単かつ迅速に識別することができ、カスタマイズされたデータ表示を提供するように設定することができます。エンジニアは、データとパフォーマンスのフィードバックを継続的に受信しながら、テストプロセスの状態を監視および分析できます。さらに、KLA ALPHASTEP 500は、監視制御装置と統合されたデータ管理システムと接続することができ、複数のデバイスの一元管理と監視を可能にします。要約すると、TENCOR Alpha Step 500 Wafer Testing and Metrology Systemは、インテリジェントなエンジニアリング設計により、高解像度のイメージングと密度測定を提供し、ユーザーは迅速かつ正確で繰り返し可能なテスト結果を得ることができます。直感的なユーザーインターフェイスと自動ウェーハの読み込みと認識により、効率的なテスト体験が可能です。