中古 KLA / TENCOR Alpha Step 300 #9356929 を販売中

KLA/TENCOR Alpha Step 300は、光学検査および計測ニーズに最大限の生産性を提供するように設計されたウェハテストおよび計測機器です。このシステムは、同社の5軸干渉技術に基づいており、ユーザーはシングルパス測定で寸法と地形の両方の表面データをキャプチャして定量化することができます。KLA Alpha Step 300は、1秒あたり最大50の局所点を測定することができ、1nmの精度と再現性を備えています。このユニットは、表面トポグラフィ特性評価、リソグラフィ認定、欠陥評価など、半導体業界内のアプリケーションに最適です。この機械は、表面平坦度、粗さ、および線幅の高速測定を可能にします。TENCOR ALPHASTEP 300は、統合されたレーザーと最適化された光学設計、直感的なユーザーインターフェイス、強力なPCベースのアーキテクチャを備えています。このツールは、Si、 GaAs、およびシリコン複合材料を含む最新の高度な基板を処理することができます。KLA/TENCOR ALPHASTEP 300は、3Dマッピング、複数のカメラ構成、自動測定、統合された品質保証資産など、幅広い機能を提供します。このモデルは、回路線、バンプ、およびその他のマイクロ機能を含む構造を測定することもできます。高精度で再現性に優れたKLA ALPHASTEP 300は、パターン同心性やサイズなどの重要なフォトマスク機能の信頼性の高い測定を提供します。この装置は、KLAの欠陥とオーバーレイアルゴリズムとの緊密な統合により、最大限のプロセス制御と再現性を提供するように設計されています。ALPHASTEP 300は、同社の洗練されたソフトウェアと組み合わせて、半導体メーカーが歩留まりと品質のパフォーマンスを保証するのに役立ちます。このシステムは、Contura™およびActura™ウェーハテストおよび計測システムなど、同社の幅広い計測ソリューションと完全に互換性があります。直感的で使いやすいインターフェイスとAlpha Step 300の強力なアーキテクチャにより、ウェーハテストと計測のニーズに対応する業界をリードするソリューションです。高度な光学系と統合された品質保証ユニットにより、比類のない精度と再現性を提供し、ユーザーはウェハレベルの検査、欠陥レビューなどのアプリケーションで高精度で信頼性の高い結果を得ることができます。