中古 KLA / TENCOR Alpha Step 300 #9251591 を販売中

KLA/TENCOR Alpha Step 300は、高速スループットと高精度で詳細なウェーハ測定を行うように設計された最先端のウェーハ試験および計測機器です。このシステムは、高度な3D干渉測定技術に基づいており、半導体ウェーハの重要な表面のステップ高さ、表面粗さ、形状などの構造パラメータを迅速に測定できます。この技術は、品質管理と信頼性を高めながら、プロセスのバリエーションを削減します。KLA Alpha Step 300は、テストと計測をシンプルかつ強力にするための幅広い機能を提供します。サンプリングレートは毎秒500サンプルまでと非常に高速なスキャン速度を備えているため、迅速なスキャンを可能にし、高速で精密なテストと計測に最適です。さらに、平坦面、円形面、曲面面から原子間近の分解能まで、様々な面での試験が可能です。TENCOR ALPHASTEP 300には、ハードウェアとソフトウェアプラットフォームが統合されており、ウェーハテストと計測プロセスの制御と調整が可能です。この統合されたプラットフォームには、内蔵のSEM（走査型電子顕微鏡）とToolboxソフトウェアスイートが含まれており、機械の定義と操作が簡単になり、テストと計測プロセスの結果を表示できます。ALPHASTEP 300は、3D表面パラメータ、3D欠陥識別、さらにはギャップ測定やイメージングなど、さまざまな高度な測定機能によってさらに強化されています。このツールはまた、ファインピッチ、高速試験、計測に適した幅広いスキャンモードを提供します。さらに、高精度で信頼性の高い測定を保証するために、高度なモデルキャリブレーションと最適化機能を備えたアセットが設計されています。KLA ALPHASTEP 300は強力でユーザーフレンドリーなツールで、効率的で正確なウェーハテストと計測に理想的なソリューションです。TENCOR Alpha Step 300は、統合されたハードウェアおよびソフトウェアプラットフォーム、高度な測定機能、高速スループットを備え、比類のないレベルのパフォーマンスと生産性を提供します。