中古 KLA / TENCOR Alpha Step 200 #9012731 を販売中

KLA/TENCOR Alpha Step 200は、半導体ウェーハの重要なパラメータを測定および分析するために設計されたウェーハ試験および計測機器です。このシステムは、独自の光学コントラスト技術を使用して、幅広い基板およびコーティングを使用したサンプルの検査を容易にします。KLA ALPHASTEP 200は、半導体ウェーハ表面のさまざまな地形特性を解析する非破壊法です。それは表面のプロフィール、表面の質、エッチピット密度および重大な次元、また表面平坦および光学質を測定できます。高速ラインスキャン画像処理ユニットを使用して、ウェーハ表面の欠陥を検出および検出します。ウェーハは手動または自動モードで高精度で測定でき、表面の信頼性と再現性の高い分析が可能です。TENCOR ALPHA-STEP 200には、高度な自動測定および分析ソフトウェアも含まれており、結果の詳細なレポートを提供します。ソフトウェアは、データを分析し、結果のグラフィカルな表現とサンプル全体の統計分析の両方を提供することができます。機械は非常に柔軟性があり、ユーザーは各測定の性能とパラメータをカスタマイズすることができます。モジュラー設計により、既存の生産環境または実験室環境への簡単なインストールと統合が可能です。TENCOR ALPHASTEP 200も高いスループットを備えており、標準的な8時間シフトで200個のウェーハをテストできます。TENCOR Alpha Step 200は、厳格な業界標準を満たすように設計されており、幅広い複雑なアプリケーションに正確で反復可能で信頼性の高い結果を提供します。このツールは、優れた精度、高精度、および低ノイズレベルを提供します。この資産は、実験室、生産および研究開発の使用、ならびに教育目的のために設計されています。要約すると、KLA/TENCOR ALPHA-STEP 200は、幅広い基板およびコーティングの高精度で信頼性の高い測定用に設計された、強力で汎用性の高いウェーハ試験および計測モデルです。装置は高度に構成可能であり、ユーザーはその性能とパラメータを特定の要件に合わせてカスタマイズすることができます。このシステムには、高度な自動測定および分析ソフトウェアも含まれており、詳細かつ正確な結果を提供します。KLA ALPHA-STEP 200は、厳しい業界標準を満たすように設計されており、高い反復性と信頼性の高い結果を提供します。