中古 KLA / TENCOR AIT #9400274 を販売中

KLA/TENCOR AIT （Advanced Interactive Technology）は、ナノおよびマイクロプロセッサの品質に関する迅速で信頼性の高い有意義な情報を提供する主要なウェハテストおよび計測機器です。このシステムは、半導体メーカーが集積回路を製造および監視するのに役立つハイエンドの計測、欠陥検出、および分析機能を提供します。KLA AITシステムは、高度な自動光学検査アルゴリズムを使用して、ウェーハの欠陥を検出します。このユニットはサブミクロン分解能で設計されており、最高レベルの精度と詳細な欠陥解析を提供します。TENCOR AITの革新的なウェーハテストおよび計測技術により、ユーザーはウェーハを迅速かつ正確に分析し、欠陥を特定し、特徴とパターンを測定することができます。さらに、AITシステムを使用すると、ユーザーはカスタム検査を設定し、品質管理を確実にするために複数のサイトでプロセスを監視することもできます。ウェーハを解析する場合、KLA/TENCOR AITシステムでは、明るいフィールド、赤外線、UVなどの複数のイメージング技術を使用しています。これらの技術は、ウェーハの包括的なビューを提供し、最も困難な欠陥やバリエーションを識別することができます。マシンの欠陥検出アルゴリズムには、特許取得済みのDeclassified AtPixel （DAP）ライブラリが搭載されており、ユーザーは検出が困難な微妙なパターンや欠陥を視覚化、調査、測定することができます。KLA AITのソフトウェアも強力で、ユーザーはツールを操作するための自動化された合理化された方法を提供します。ウェハマッピングやパターン認識から欠陥解析、プロセス制御まで、重要なデータポイントを抽出し、正確な意思決定をより迅速かつ効率的に行うことができます。さらに、このソフトウェアは高度な分析機能を備えており、詳細なレポートのレビュー、光学モデルの作成、データ主導のインサイトの生成が可能です。TENCOR AITは、包括的な欠陥検出と堅牢な分析機能を提供する信頼性の高い包括的な計測資産です。直感的なソフトウェアと高度なイメージングテクノロジーにより、ウェーハを包括的に把握し、欠陥の特定と修正をこれまで以上に容易にします。半導体メーカーにとって、AITは製品の最高レベルの品質を保証できる貴重なツールです。