中古 KLA / TENCOR AIT #9190534 を販売中

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KLA / TENCOR AIT
販売された
製造業者
KLA / TENCOR
モデル
AIT
ID: 9190534
Patterned wafer surface inspection system.
KLA Advanced Inspection Technology (KLA/TENCOR AIT)は、ウェーハ上の欠陥の原因となる特徴の測定を識別し、特徴付けるために使用されるウェーハ試験および計測機器です。完全自動化されたロボットシステムを使用して、高解像度の画像をキャプチャします。その後、パターン認識アルゴリズムを使用して画像内の微妙な形状やパターンを検出し、ウェハのより全体的な画像を提供し、欠陥検出と特性評価に最適です。KLA AITユニットは、あらゆる寸法層および最大200mmウェーハで動作できます。また、ウェーハレートが低く、歩留まりが改善されています。高解像度出力により、欠陥画像をリアルタイムでキャプチャ・解析することで、製品の品質と歩留まりを向上させることができます。TENCOR AITツールは、ファブの生産性を向上させ、検査サイクル時間を短縮し、トータルミリングと研削時間を短縮する費用対効果の高いソリューションを提供します。AITアセットには直感的なユーザーインターフェイスがあり、ウェーハ検査を簡素化します。これは、欠陥の微細なフォトミクログラフを収集し、画像や分類情報を顧客に提供することができます。モデルは、欠陥が特定のサイズ範囲内に収まるかどうかを識別し、その属性に応じて欠陥を分類する微妙な形状を識別することもできます。KLA/TENCOR AIT装置は、欠陥検出と特性評価を改善するためにドアを開きます。デバイスおよびプロセスの認定、プロセスの持続可能性、故障解析、ダイロット歩留まり推定、誤報低減に使用できます。TENCORの実証済みのウェーハテストと計測システムは、多くのお客様のアプリケーションでも同様に信頼性があります。KLA AITユニットは、非常に特殊化された使いやすいプロセスコントローラで、精度が高く、最小の欠陥を検出することができます。このマシンは、テストと計測結果の変化を最小限に抑え、信頼性の高い再現性のある結果を提供するように設計されています。さらに、このツールは、認証トークンと安全なデータ転送プロセスを管理することで、顧客データを保護し、プライバシーを確保するように設計されています。KLA/TENCORの高度な検査技術は、ウェーハテストと測定ソリューションを提供し、ファブがノードの均一性を高め、製品の歩留まりを減らし、デバイスとプロセスのパフォーマンスを最適化することを可能にします。TENCOR AITアセットを使用すると、スクラップレート、拒絶反応、プロセスのドリフトを大幅に削減し、ファブのコストパフォーマンスを向上させることができます。
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