中古 KLA / TENCOR AIT #293642831 を販売中

KLA/TENCOR AITは、半導体ウェーハを正確に測定および検査するために設計されたウェーハ試験および計測機器です。このシステムは、光学技術と計算技術を組み合わせて構造欠陥を検出し、ウェーハの品質を正確に評価します。高解像度デジタルイメージングセンサーでウェーハ表面の画像をキャプチャし、高度なアルゴリズムを使用してデータを処理します。次に、パターン認識、自動解析、および人間の洞察力の組み合わせを使用して、欠陥を検出、分類、定量化します。KLA AITマシンは、重要な寸法の特性評価、オーバーレイ測定、欠陥検査など、幅広いウェーハ製造およびプロセスのニーズに対応しています。高速光学センサは、ナノメートルスケールまでの異常を特定するための詳細な画像解析を提供します。また、ウェーハの組成や表面に関するデータを正確かつ一貫して提供することができます。TENCOR AITツールは、効率的なスループットを促進し、データ分析を簡素化するように設計されています。カスタマイズ可能なソフトウェアとオープンアーキテクチャを備えているため、必要に応じてハードウェアを追加し、ソフトウェアを簡単に変更できます。これにより、高度なナノテクノロジーに見られるような迅速な適応と高速解析を必要とするアプリケーションに最適です。このアセットには、生産性を向上させる自動ウェーハローダと、正確で再現性の高い測定のための低ノイズ環境も備えています。また、あらゆる環境で信頼性の高いパフォーマンスを保証する環境監視モデルも含まれています。統合されたハードウェアと高度なアルゴリズムの組み合わせを使用して、個々のウェーハの違いを特定し、歩留まりを向上させ、生産エラーを低減することもできます。ウェーハの欠陥やプラズマエッチング率もAIT機器で正確に判定できます。KLA/TENCOR AITは、製造プロセスに迅速に統合できる信頼性の高い正確な測定を求めるメーカーにとって理想的なソリューションです。最高レベルの画質、欠陥検出、パフォーマンスを提供するように設計されています。さらに、システムは高度に構成可能であり、さまざまな種類のウェーハ生産に対応できます。オープンアーキテクチャにより、新しいハードウェアとソフトウェアの統合が容易になり、ユーザーはニーズが時間とともに変化するにつれてユニットを変更することができます。