中古 KLA / TENCOR AIT XT+ #9261842 を販売中

KLA/TENCOR AIT XT+は、高度なノード半導体基板の欠陥を検出して対処する高感度のマルチチャネル欠陥検出機能を提供する次世代ウェハテストおよび計測機器です。このシステムは、電気光学イメージング、業界をリードするレビュークラスタ、およびQA Vision技術を備えています。エレクトロオプティカルイメージングユニットは、幅広い基板をスキャンし、ウェーハの迅速かつ正確な検査を可能にします。これにより、ウェーハ上の粒子、傷、フィルム、マスキングなどの異物を検出することができ、計測誤差が発生する可能性があります。業界をリードするレビュークラスターは、各ウェーハから出力される画像データを検査し、誤った欠陥信号を排除して感度を向上させ、誤報を少なくするように設計された高度なアルゴリズムを使用しています。KLA AIT XT+には、Visual AIと呼ばれるカスタムハードウェアとソフトウェアを組み合わせたユニークなQA Vision Technologyが搭載されています。この技術は、高精度で潜在的な欠陥を特定するために、高度な機械学習アルゴリズムと従来の異種検査方法を組み合わせています。この機械は検査の練習に知性をもたらし、目視検査の退屈なプロセスを自動化し、発見の正確さを高めます。このツールには、半導体メーカーのテストおよび計測ニーズを満たすための豊富な機能も含まれています。これには、高度な欠陥分類、マルチディテクタ検査、および最大ウェーハ歩留まりのためのダイレベル分解能が含まれています。さらに、プロセスの自動統合、高度な欠陥監視、および迅速な特性評価と分析のためのレポート機能を備えています。TENCOR AIT XT+は、最先端のウェーハテストと計測のためのエレガントなソリューションを提供します。高感度、QA技術、高度な分類、自動化されたプロセス統合を組み合わせることで、ウェーハ生産の向上による歩留まり向上を目指す半導体メーカーに最適です。アセットは堅牢で適応性があり、さまざまな条件で正確な欠陥検出と計測を提供します。