中古 KLA / TENCOR AIT XP+ #9255307 を販売中
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KLA/TENCOR AIT XP+は、FinFETやその他の高度なノードなど、現在および将来の半導体ウェーハ技術向けに設計された高度なウェーハ試験および計測機器です。KLAの超精密測定器シリーズの最新世代であり、ウェーハの特性評価とプロセス制御を次のレベルに引き上げるための多くの機能と機能を提供しています。KLA AIT XP+は、これまでにないスピードと精度で高精度な測定を実現する自動ウェーハ試験および測定システムです。このユニットは、洗練されたレーザー干渉計ベースの技術を使用して、解像度のいくつかのアングストロームで個々のナノスケールの特徴を測定します。さらに、厚さ測定、線幅測定、フィルム応力測定、地形画像など、さまざまな試験および計測タスクを実行できます。また、TENCOR AIT-XP+にはいくつかの高度な機能があり、お客様はウェーハの特性評価、プロセス制御、および信頼性プロセスについてより深い洞察を得ることができます。例えば、このツールには固体液浸レンズ（SIL）モジュールが含まれており、finFETなどの高アスペクト比の構造を精密に測定できます。さらに、このアセットは、お客様のプロセスのパフォーマンスを最適化するための幅広い高度なデータ分析技術を提供しています。AIT-XP+は、幅広い基板や様々な用途において優れた精度、精度、再現性を提供し、ウェーハ試験および計測システムの中でも最も汎用性の高い製品です。また、革新的な設計と最先端の技術により、市場投入までの時間と信頼性が重要な環境での極めて正確な処理に最適です。結論として、AIT XP+は、次世代半導体ウェーハ技術向けに設計された卓越したウェーハ試験および計測モデルです。業界をリードする精度、精度、再現性、および多くの高度な機能を備えています。さらに、その革新的な設計と最先端の技術は、非常に精密で高速な処理に最適であり、高度な半導体の研究開発に利用可能な最も貴重なツールの1つです。
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