中古 KLA / TENCOR AIT XP #9236719 を販売中

KLA/TENCOR AIT XPは、メーカーが製品の状態に関する重要なデータを収集できるように設計されたウェハテストおよび計測ソリューションのスイートです。半導体デバイスやその他の関連部品の費用対効果と正確な試験と計測の両方を提供するように設計されています。KLA AIT XPは、光学検査から高度なゲートレベルの欠陥使用まで、幅広い先進技術を提供しています。ゲート電極などの複雑な可動部品の品質、サイズ、形状を迅速に確認するために光検査を利用しています。これは潜在的な欠陥を検出し、時間とお金を節約するのに役立ちます。光学検査の後、ゲートレベルの欠陥は、不均一性とプロセスの欠陥を識別するのに役立ちます。ゲートレベルの欠陥を使用すると、テストサンプル間の比較が微細な違いを検出でき、製品の性能に問題が生じることがよくあります。TENCOR AIT-XPは、欠陥の特定に加えて、高度な計測プロセスを使用することができます。これには、高度なサーフェスおよびプロファイル測定、ならびに曲線、脊柱、振幅解析の使用が含まれます。これにより、新製品の徹底的なテストが可能になり、デバイスの設計に関するエンジニアへの貴重なフィードバックを提供します。部品の正確な測定を検討することにより、エンジニアは製品が必要な仕様を満たしていることを確認するために必要な変更を行うことができます。KLA AIT-XPには、操作を簡単かつ効率的にするためのユーザーフレンドリーなグラフィカルユーザーインターフェイスもあります。ユーザーインターフェイスを使用すると、あらゆる種類のウェーハテストおよび計測テストの結果にすばやく簡単にアクセス、分析、レビューできます。ユーザーは潜在的な欠陥を容易に識別し、製品品質を向上させるために必要なプロセスを変更することができます。全体として、TENCOR AIT XPはウェーハテストおよび計測ソリューションの包括的なスイートであり、メーカーは潜在的な欠陥を検出し、必要なプロセスの変更を行うことができます。これにより、製造メーカーは欠陥を迅速に特定し、部品の正確な測定を行い、設計プロセスに関するエンジニアに貴重なフィードバックを提供することができます。ユーザーフレンドリーなGUIにより、高度な光学検査と計測プロセスを簡単に利用できます。