中古 KLA / TENCOR AIT XP #9230562 を販売中

KLA/TENCOR AIT XPは、欠陥管理とプロセス制御の両方のソリューションを提供する自動ウェハテストおよび計測機器です。このシステムは、高度な分析、統合アルゴリズム、および高精度測定機能を組み合わせて、ウェーハの物理的特性に関する詳細なデータをユーザーに提供します。KLA AIT XPは、高精度で再現性のある半導体材料、部品、デバイスのハイスループット試験および計測を可能にします。このユニットには、光学、レーザー散乱、X線蛍光、音響、渦電流、渦電流の光学プローブなど、複数のセンサーがあります。これらのセンサは、ユーザーに全面的なフィードバックを提供し、マシンの視野外にあるウェーハの領域を検査することができます。また、自動欠陥解析用のコンピュータビジョンマシンを搭載し、幅広いテストパラメータ上のパターン、濃度、および単一の欠陥を検出します。このツールの高度なロジックアルゴリズムにより、ウェーハの多数の物理的および電気的特性を数秒以内に測定でき、傾向を特定して回路性能を予測するために使用できるデータを提供します。統合された設計規則により、ユーザーはプロセス制御と歩留まり分析のためのカスタマイズされたレシピを開発することができます。また、データ分析を容易にするためのさまざまなレポートツールや、リアルタイムのパフォーマンス監視とウェハレベルの品質管理のためのアプリケーションのライブラリも提供しています。このアセットは、メンテナンスを最小限に抑えて動作するように設計されており、直感的なコントロールにより、すべてのユーザーが迅速にトレーニングを受け、モデルで速度を上げることができます。TENCOR AIT-XPには強力なソフトウェアプラットフォームが装備されており、リアルタイムのデータ取得、データ分析、および複数の通信オプションをユーザーに提供し、プロセス全体をよりよく理解し管理します。要約すると、KLA AIT-XPは、品質管理とプロセス分析のための最先端のツールを提供する自動ウェーハ試験および計測機器です。このシステムは、強力なセンサーとアルゴリズムを統合されたソフトウェアプラットフォームと組み合わせて、ユーザーに詳細なデータとパフォーマンス指標を提供します。直感的なコントロールユニットにより、メンテナンス、迅速な操作、簡単なトレーニングが可能です。AIT XPを使用すると、欠陥を容易に識別し、視野外の領域を検査し、高精度で再現性のあるプロセス制御を実行できます。