中古 KLA / TENCOR AIT XP #293610165 を販売中

KLA/TENCOR AIT XPは、半導体ウェハ上の様々な特徴を分析するために使用されるウェーハ試験および計測機器です。ウェーハ表面の高解像度イメージングや、ウェーハの様々な特徴を正確に測定することができます。このシステムは、手動と自動化された本番環境の両方で使用できる完全に統合されたソリューションを提供します。ウエハテストや計測において高い精度と精度を提供する幅広い機能を備えています。これには、高度な3D非接触センシングと正確な高速オートフォーカス技術が含まれ、ウェーハの深層でも正確なイメージングを実現します。また、高度な高精度スキャンおよび画像認識機能を使用して、ウェーハ表面のさまざまな欠陥を識別および分析します。オペレータはまた、ツールを制御するために手動コマンドを使用するオプションを持っています、より高い柔軟性を可能にします。この資産はまた、モデルから得られた測定結果を評価するための強力なソフトウェアベースの制御および分析ツールを利用しています。これには、データ解釈、統計解析、マルチセンサ相関、欠陥解析のためのソフトウェアツールが含まれます。この機能により、機器からオペレータへのリアルタイムフィードバックを自動化できます。また、モジュラー設計を採用しており、お客様のさまざまなニーズに適応し、生産要件を変化させることができるように高度なアップグレードが可能です。このユニットは、手動および半自動プロセスの両方を実行するために使用でき、PC、コントローラ、ファームウェア、ソフトウェア、電気キャビネット、センサーなどのさまざまなコンポーネントを含む。このマシンは、スループットの向上、プロセスの生産性の向上、データ精度の向上、診断と歩留まりの向上など、ユーザーに多くの利点を提供します。これらの機能はすべて、KLA AIT XPをウェーハテストと計測のためのユニークで強力なツールにします。