中古 KLA / TENCOR AIT II #9377284 を販売中

KLA/TENCOR AIT II （Advanced Inspection Tool）は、大型ウェハの欠陥を迅速に検査および分析するために設計されたウェハテストおよび計測機器です。ウェーハが正しく処理され、欠陥がないようにするための信頼性の高いソリューションを提供します。KLA AIT IIは、300mmウェーハ全体をわずか15秒で超高精度で検査することを可能にするX線検出器を備えた強力な自動システムで構成されています。このユニットは、半導体業界で使用されている最先端の方法と同等の感度で、外来粒子とネイティブ粒子の両方を検出することができます。写真イメージングを使用して、機械は非常に小さいサイズの欠陥を識別し、測定し、そして分析することができます。このツールのソフトウェアは、最大20種類の欠陥を検査するために構成可能であり、1ナノメートル以下の精度レベルに校正することができます。TENCOR AIT IIのウェーハ計測資産は、高精度を確保するために、標準的な光学技術とレーザー回折技術を組み合わせて使用しています。この高度な計測モデルは、迅速で正確な欠陥測定を可能にし、最小の欠陥でも検出することができます。また、精度と効率を向上させるために設計された幅広い機能を備えています。これらの機能には、自動欠陥検出システム、欠陥検査アーカイブ、粒子輪郭データ、欠陥検査シーケンスビルダー、オペレータインターフェイス、および画像後処理ツールが含まれます。KLAはまた、ユーザーが特定のニーズを満たすためにユニットを適応させることを可能にするさまざまなハードウェアおよびソフトウェアオプションを開発しました。これらのオプションの例には、高解像度顕微鏡、第三世代コリメート検出器、自動校正機の追加があります。その印象的な機能に加えて、AIT IIは利用可能な最もユーザーフレンドリーなウェーハテストおよび計測システムの1つです。ユーザーフレンドリーなインターフェースを誇り、ユーザーがシステムを迅速かつ正確にセットアップおよび運用できるようにするための包括的なドキュメントが付属しています。要約すると、KLA/TENCOR AIT IIは強力で信頼性の高いウェーハテストおよび計測ツールであり、幅広いウェーハ検査および分析ニーズに迅速かつ正確で費用対効果の高いソリューションを提供できます。