中古 KLA / TENCOR AIT 8010 #80434 を販売中

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ID: 80434
ウェーハサイズ: 8"
ヴィンテージ: 1998
SURFSCAN Defect inspection system, 8" Crated and stored in a warehouse 1998 vintage.
KLA/TENCOR AIT 8010は、半導体産業の発展に使用される最先端のウェーハ試験および計測機器です。高度な計測機能と自動化されたウェーハテストを組み合わせることで、複数の処理段階を監視し、製品歩留まりを向上させるための理想的なツールとなります。KLA AIT 8010は、3D Warp/CDH (Width、 Height、 andRadial)トポグラフィを測定する高解像度非接触レーザー干渉計を採用したk-Space Metrology (KSM)プラットフォームをベースにしています。KSM技術は、システムに高精度で再現性のある測定範囲を提供し、最大追跡可能な精度は0。5nmです。これにより、ウェーハ表面情報を正確に測定することができます。これを分析することで、さまざまなプロセス工程での微細構造変化に関する貴重な洞察を得ることができます。また、優れた自動化機能を提供し、無数のウェーハを迅速かつ簡単にテストすることができます。このユニットには、高速かつ正確な動作を保証するための全自動スピードポジショニングマシンと、正確なサンプル配置を保証するための完全自動サンプル操作ツールが付属しています。高度なイメージングは、高速、高解像度のイメージングおよび定量的欠陥解析を提供する調整可能な明るいフィールド光学資産によって可能になります。さらに、TENCOR AIT 8010は、セキュアなWebベースのサーバーと同期する堅牢なマルチユーザーデータ管理モデルで構築されており、データへのアクセス、共有、保存が容易です。これにより、世界中のワークステーションのデータに同時にアクセスできるため、シームレスなコラボレーションが可能になります。全体として、AIT 8010は、高度な技術と自動化されたプロセスを組み合わせてウェーハの性能と品質を最大化するオールインワンのウェーハ試験および計測機器です。それは今日の半導体技術の厳しい要件を満たすように設計された強力なソリューションです。
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