中古 KLA / TENCOR 7700 Surfscan #293662764 を販売中

ID: 293662764
ウェーハサイズ: 8"
Wafer inspection system, 8".
KLA/TENCOR 7700サーフスキャンは、高性能ウエハテストおよび計測システムです。半導体製造およびテスターの実験室で使用するために設計されています。KLA 7700 Surfscanは、材料および基板の正確かつ正確な特性評価を可能にする統合された分析ツールを提供します。TENCOR 7700 Surfscanは、複雑なマイクロエレクトロニクス構造とウェーハの識別、特性評価に必要な最も包括的で正確なツールを研究者およびエンジニアに提供します。最新のディープラーニングアルゴリズムを使用して、材料の正確で3次元的で非破壊的な表面解析を提供します。このシステムは高速なスループット速度を備えており、結果を完全に可視化した1つのセッションで複数のウェーハのテストを可能にします。また、高解像度かつ高精度な画像処理を可能にし、ナノメートルスケール構造の検出と特性評価を可能にします。7700サーフスキャンは、深度プロファイル解析、電圧コントラストイメージング、周波数依存スキャン、フーリエ変換分光などの高度な測定機能を提供します。設定可能な測定パラメータにより、ユーザーは特定のアプリケーションのニーズに合わせて検査を最適化できます。また、非接触ウェーハプロービング、高速データ収集、マルチチャンネルスキャン、高データスループットなどの機能も提供します。KLA/TENCOR 7700サーフスキャンシステムは、パターン認識機能、ユーザーフレンドリーなグラフィカルユーザーインターフェイス、正確な画像取得のための幅広いプローブ、さまざまな信号取得モードなど、さまざまなオプションでカスタマイズできます。1回のパスで高解像度の画像やメタデータをキャプチャして処理することができ、ウェーハ表面の構造を正確に評価できます。KLA 7700 Surfscanは、ウェーハ表面の最も包括的な分析を提供する強力で汎用性の高いウェーハテストおよび計測ツールです。これにより、エンジニアや研究者は、複雑なマイクロエレクトロニクス構造と基板を特定、特徴付け、トラブルシューティング、最適化することができます。その高度な機能と設定可能なパラメータにより、TENCOR 7700 Surfscanはさまざまなウェハテストアプリケーションに最適です。
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