中古 KLA / TENCOR 7700 Surfscan #293653454 を販売中

KLA/TENCOR 7700 Surfscanは、測定だけでなく、サンプル基板の範囲を検査、認定、特性評価するために設計された高度なウェハテストおよび計測機器です。この包括的なプラットフォームにより、半導体、フラットパネルディスプレイ、ソーラー、メモリデバイス製造など、幅広い用途に対応するさまざまな材料を迅速に分析できます。KLA 7700サーフスキャンシステムは、高度な自動顕微鏡を搭載し、高品質の光学測定を可能にし、詳細なイメージングと分析を提供します。優れた3D計測機能と5軸ハードウェアステージにより、さまざまなウエハインタフェースと表面トポグラフィーを測定できます。自動化されたフィーチャー検出アルゴリズムにより、複数の測定パラメータを比較して品質指標を定義することができ、製品の最高歩留まりを保証します。画像処理アルゴリズムの強化により、焦点距離、ラインエッジの粗さ、パターンサイズの測定など、多数のナノスケール機能の評価が可能になり、機械の機能がさらに拡張されます。このツールはまた、PDF、 。plt、 。dat、および。xlを含むさまざまな形式でデータをエクスポートする機能を備えており、データの検索と表示に高いレベルの柔軟性を備えています。統合されたグラフィカルユーザーインターフェイスと組み込みソフトウェアにより、複数のサンプルを迅速に分析できます。TENCOR 7700サーフスキャンは、最新の軽量スチールフレームとモジュラーアーキテクチャで構築されており、360°のアクセシビリティを実現し、既存のオートメーションシステムに簡単に統合できます。この構成により、メンテナンスを最小限に抑え、高いレベルの信頼性の高いパフォーマンスとクラス最高の稼働時間を実現できます。7700 Surfscanは、サンプルスループットを向上させるための7720 Automated Wafer Mapperや、基板エッジ領域で資産をより正確に校正するための7700 Edge Calibration Kitなど、さまざまなオプションで高度に構成可能です。さらに、自動アライメント、オートフォーカス、オーバーレイマッパー、幅広い計測技術など、いくつかのアップグレードパッケージが利用可能です。堅牢な性能と高度な機能を備えたKLA/TENCOR 7700 Surfscanは、最も要求の厳しい計測アプリケーションでの使用に適した信頼性の高い強力なモデルです。