中古 KLA / TENCOR 6410 Surfscan #9288820 を販売中

KLA/TENCOR 6410 Surfscanは、半導体製造に使用されるウェハテストおよび計測機器です。ウェーハ表面の表面品質、汚染、不規則な表面形状、および表面欠陥を検出するように設計されています。このシステムは、1時間あたり最大30個のウェーハを検査および分析することができ、詳細な測定と検査結果を提供します。KLA 6410 Surfscanは、光干渉の原理を利用した干渉技術を採用した高解像度計測ユニットを備えており、ウェーハ表面の汚染物や損傷欠陥を検出します。フィルムの厚さとウェーハ表面測定のための高速で正確なデータを生成します。TENCOR 6410サーフスキャンはコンパクトなデザインで、クリーンルームなどのウェーハ製造施設の狭いスペースに収まることができます。感度設定を使用して必要に応じて精度を向上または低下させ、ユーザーは必要に応じて解像度をプッシュまたは削減して目的の結果を得ることができます。6410 Surfscanは、少ない設置面積とエネルギー効率の高い操作で、信頼性が高く、メンテナンス性が低いように設計されています。2台のヘッドスキャニングマシンにより、ウェハの正確な測定とマッピングが可能で、幅広い半導体アプリケーションに対応します。これは、狭いギャップ欠陥測定だけでなく、数ミリメートルまでのより大きな欠陥測定をサポートしています。このツールは、欠陥を識別するための高度なアルゴリズムを備えており、ウェーハの非均一性と不規則性を理解することができます。KLA/TENCOR 6410 Surfscanは、複数のウェーハタイプをサポートするだけでなく、ウェーハテスト、データ分析、チップレベルのパフォーマンス評価を合理化するためのソフトウェアツールを備えています。自動化されたウェーハテストおよび欠陥レビュープロセスに統合できます。データ分析とグラフィックスソフトウェアにより、ユーザーは時間の経過とともに傾向を調査し、理解し、データを迅速に分析し、実行可能な結果を得ることができます。KLA 6410 Surfscanは半導体業界の過酷な環境向けに設計されており、1つの資産から信頼性の高い試験および計測サービスを提供します。迅速な結果を提供し、製造の課題に効率的に対処し、生産プロセスの可能性を解き放つことができます。