中古 KLA / TENCOR 6220 Surfscan #293606175 を販売中

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ID: 293606175
ヴィンテージ: 1998
Wafer particle inspection system 1998 vintage.
KLA/TENCOR 6220 Surfscanは、ウェーハ表面の正確な測定と正確な検査に優れた精度と再現性を提供する最新のウェーハ試験および計測機器です。半導体製造業界に最適な高効率ウェーハ表面特性評価・検査システムです。KLA 6220サーフスキャンユニットには、精密なサンプルアライメントと広範な分析プラットフォームを備えた堅牢なオプトメカニカル設計が付属しており、ユーザーはウェーハ表面の微細な地形変化と欠陥をリアルタイムで測定できます。2Dと3Dの両方の詳細な表面解析を提供し、幅広いウェーハ欠陥の正確な測定を提供します。TENCOR 6220サーフスキャンマシンには、調整可能な干渉計、高解像度および大面積カメラ、および高出力顕微鏡などの高度なハードウェアが装備されています。ハードウェアコンポーネントは、環境要因に依存せず、接触エラーのない、信頼性の高い再現性のある結果を提供するために設計および製造されています。さらに、このツールは、さまざまなウェーハの光学的および物理的特性を評価、分析、特性評価するための幅広いソフトウェアツールを提供しています。6220 Surfscanは、製造メーカーが絶対的な精度と精度でウェーハを評価するのに役立つ包括的な機能と機能を提供する高度な技術資産です。データ収集が可能な高速カメラにより、品質を損なうことなく複数のウェーハを迅速かつ効率的に検査できます。さらに、このモデルは、検査および特性評価プロセスからのデータの評価、分析、解釈を容易にするための幅広いソフトウェアツールを提供しています。KLA/TENCOR 6220 Surfscanには独自の直感的なユーザーインターフェイスが搭載されており、オペレータは強力な測定および分析ツールを簡単にナビゲートできます。また、自動サンプルハンドリングとウェーハアライメントの高度なアルゴリズムの制御も備えています。この機器にはリモートアクセス機能も搭載されており、ユーザーはオフサイトの場所からデータにアクセスして操作することができます。これらのすべての機能により、KLA 6220 Surfscanは、高度な半導体テストとプロセス制御のための信頼性と不可欠なツールとなります。
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