中古 KLA / TENCOR 6200 Surfscan #293807558 を販売中

KLA/TENCOR SFS 6200は、高度なウェーハ試験および計測機器です。KLAが開発した、先進のインダイセンサーと分光法を活用した半導体ウェーハの精密解析を行います。このユニットは、半導体メーカーにとって特に有用であり、高速で正確で費用対効果の高いウェーハテストと計測を提供します。KLA SFS 6200は、リニアダイオードアレイとレーザー干渉計を使用してウェーハ表面の位置、ピッチ、深さを正確に測定するデュアルインダイセンサ（位置センサおよびフォーカスセンサー）を備えています。さらに、精密な光学イメージング用の分光計や、欠陥や表面粗さを測定するための照明イメージングも含まれています。TENCOR SFS6200は、高度な光学機器により、あらゆるサイズのサンプルの試験に優れた解像度と信頼性の高い性能を提供します。このツールはVision 4。2ソフトウェアパッケージを使用しており、直感的なユーザーインターフェイス、欠陥レビュー、オフラインレビュー、プログラマブルオートメーション、その他の高レベルの機能を備えています。このソフトウェアを使用すると、ユーザーは自動プロセスをカスタマイズし、複数のパラメトリック測定を自動化し、統計的方法を使用してデータを分析することができます。また、ウェーハスケッチツールを提供し、ウェーハ上の興味のある特徴をすばやく識別し、モニター上の2次元画像としてレンダリングすることができます。TENCOR SFS 6200は優れた柔軟性を提供し、ベーシックおよび高度なウェーハテストおよび計測に最適です。卓越した精度と再現性を提供し、半導体業界の厳しい要件を満たす包括的で一貫した結果を生み出します。さらに、このアセットはスループットを最適化するように設計されており、測定サイクルの高速化とサンプルのスループットの向上を可能にします。要するに、KLA/TENCOR SFS6200は強力で信頼性の高いウェーハテストおよび計測モデルです。高度な光学系、ユーザーフレンドリーなソフトウェア、柔軟性、精度を備えたSFS6200は、精密で信頼性の高いウェーハテストと計測を求めるあらゆる半導体メーカーにとって理想的なソリューションです。