中古 KLA / TENCOR 5300 #9161978 を販売中
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販売された
ID: 9161978
ヴィンテージ: 2001
Overlay measurement system
Hardware configuration:
Chuck: 8"
Handler: Open cassette with PRI dual end-effector robot
Cassette type: Dual open cassette
Line conditioner: Yes
Network: Yes
Signal tower: No
UPS: Smart-UPS 500
Main console: Yes
Load port: 8"
(2) Open cassette stations
VME:
CPU Board: Yes
Memory board: Yes
Video (Matrox) board: Yes
I/O Board: Yes
PZT Controller board: Yes
I/O Adapter board: Yes
Motion and controller:
Power supply: Yes
X Driver board: Yes
V Driver board: Yes
Z Driver board: Yes
T Driver board: Yes
L Driver board: Yes
XYT Stage: Yes
PM Target: Yes
Z Motor: Yes
Host chuck: 8"
Z PZT: Yes
PCB and pneumatics panel:
I/O Interface board
PZT Driver board
Interlock board
Pressure panel
Vacuum panel
Flotation module:
IDE Controller
(8) Motors
(3) Proximity sensors
(3) Hard stop
LINNIK and AMS:
HLS Lamp housing: Yes
Dual aperture: Yes
LLG: Yes
LlNNIK Camera: Yes
PIN Diode array: Yes
P PZT: Yes
Shutter: Yes
AMS Camera: Yes
Power module:
P Power transformer (Line conditioner): Yes
AC Compartment: Yes
Main DC power supply: Yes
HLS Power supply: Yes
Software configuration:
Operation system: Windows NT 4.0
Computer configuration:
CPU: Pentium II 400 MHz
RAM: 256M
(2) Hard drive disks: 9G
Floppy drive: Yes
CD ROM: Yes
Tape driver: Yes
Monitor: Yes
Thermal printer: Yes
Keyboard / Tracking ball: Yes
Facilities:
Input power: 225VAC, 50/60 Hz
Computer input power: 110 VAC
Input vacuum: 25 Inches Hg
Input CDA: 97 - 110 PSI
Handler check:
Robot: Yes
End effector: Yes
Pre aligner: Yes
L Cassette: Yes
R Cassette: Yes
Currently crated
2001 vintage.
KLA/TENCOR 5300ウェーハ試験および計測装置は、半導体ウェーハの品質を分析および決定するための高精度で精密なシステムです。ウエハの寸法、平坦度、厚さを短時間で計測できる超高速レーザースキャナを搭載しています。このユニットの主な機能には、高速レーザースキャナ、画像解析ソフトウェア、統合ソフトウェアおよびハードウェアパッケージが含まれます。レーザーオプティクスは、ウェーハ全体を迅速かつ効率的にスキャンし、エッジ、ライン長、ライン幅などの必要なデータを抽出することができます。画像解析ソフトウェアは、レーザーマシンから読み取りを行い、レポート、図面、およびその他のデータ出力を生成するために使用されるウェーハ表面のデジタルマップを生成します。収集されたすべてのデータは、いつでもアクセスできるように大きなデータベースに保存されます。統合されたソフトウェアおよびハードウェアパッケージは、複雑な表面形状を迅速かつ正確に測定し、ウェーハの異常や欠陥を特定する強力なツールをユーザーに提供します。各ウェーハに適用する必要な補正パラメータは、収集されたデータに基づいてツールによって自動的に計算されます。KLA 5300 Wafer Testing and Metrology Assetは、品質管理および製品開発に使用される詳細なレポートと、ウェハ品質に対するプロセス変動の影響を評価するためのレポートを提供します。ユーザーフレンドリーなインターフェースを備えた高効率で信頼性の高いモデルで、定期的および特定の検査および分析操作を迅速かつ効率的に実行できます。その精度と能力の範囲は、あらゆる半導体メーカーやラボにとって非常に貴重なツールです。
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