中古 KLA / TENCOR 5107XP #9241509 を販売中

KLA/TENCOR 5107XP Wafer Testing and Metrology Equipmentは半導体産業のために設計された高度な品質管理ツールです。このシステムには、ウェーハのサイズ、形状、表面品質などの物理特性を正確に測定および分析するために設計されたハードウェアおよびソフトウェアコンポーネントが含まれます。高精度な光学技術をベースにしており、高度なソフトウェアベースの画像処理アルゴリズムを活用して、手作業でかかる時間のほんの一部で正確な測定値を取得しています。KLA 5107XPのハードウェアには、高輝度CCDカメラを使用して画像データを取得する高度な光学検査ヘッドが含まれています。このマシンは5軸電動ステージを備えており、ウェーハ全体を多方向にスキャンすることができます。ステージは、広い領域をカバーしたり、ウェーハのセクションをより詳細にスキャンするようにプログラムすることができます。これにより、ウエハサイズ、形状、凹凸、ピットなどの表面特性を正確に測定できます。TENCOR 5107XPのソフトウェアは、画像データを処理するためにハードウェアで動作するように設計されています。多種多様な機能を検出、識別、分類できる画像処理アルゴリズムが含まれています。高度な統計解析アルゴリズムにより、このツールは、ウェーハの品質管理とプロセス管理の評価に使用できる測定値を定量化できます。5107XPは高いスループットの方法でテストと計測が可能です。検査ヘッドと5軸ステージは、手動で行う時間ではなく、数分でウェーハ全体を迅速にスキャンできる自動プログラムによって制御することができます。これにより、各ウェハを迅速かつ徹底的に検査することができ、製造プロセス全体の品質とプロセス管理を管理できます。KLA/TENCOR 5107XP資産は、半導体産業に不可欠なツールと考えられています。正確で高スループットの測定により、一貫したウェーハ品質管理を実現し、高度な解析アルゴリズムにより、ウェーハごとにプロセスのパフォーマンスを正確に評価できます。このモデルは、ウェーハの製造から完成品まで、最高レベルの製品品質と信頼性を維持するのに理想的です。