中古 KLA / TENCOR 4500 #293626895 を販売中

KLA / TENCOR 4500
製造業者
KLA / TENCOR
モデル
4500
ID: 293626895
Wafer inspection system.
KLA/TENCOR 4500は、高度な半導体ウェーハ製造プロセスの分析と最適化を目的とした最先端のウェーハ試験および計測システムです。このシステムは、高度に自動化されたモジュラー設計を備えているため、研究および産業用の両方で大量生産に最適です。KLA 4500は、ウェハマッピングユニット、ウェハテストユニット、データ解析ユニットの3つの主要コンポーネントで構成されています。マッピングユニットは、ウェーハの正確な表面測定を行い、さらなるテストと分析が必要な領域を特定する責任があります。これは、高解像度、高速イメージングカメラでウェハをスキャンすることによって行われます。スキャンされた画像は、統合されたソフトウェアによって分析され、関心のある特定の領域の座標を決定します。ウェーハテストユニットは、関心のあるこれらの分野で一連のテストと測定を実施する責任があります。これらの試験には、ウェーハの品質を適切に評価するための電気特性、化学特性、構造特性の測定が含まれます。これらのテストから収集されたデータは、さらなる分析のために統合データベースに保存されます。最後に、データ分析ユニットは、テストから収集されたデータを解釈する責任があります。高度なアルゴリズムと分析技術を使用して、ウェーハの詳細な品質マップを作成し、ウェーハの欠陥と性能を徹底的に理解することができます。さらに、データ分析ユニットは、是正および予防措置のための推奨事項を提供することができ、欠陥を防ぎ、高品質の生産を確保するための貴重なツールとなります。TENCOR 4500は、ウェーハ製造プロセスの効率的かつ正確な分析を可能にする、研究および産業用半導体製造の両方において貴重なツールです。多用途で信頼性が高く、ユーザーフレンドリーなシステムで、さまざまな分析や測定に迅速に設定および構成できます。
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