中古 KLA / TENCOR 4500 SURFSCAN #293626873 を販売中

ID: 293626873
ウェーハサイズ: 2"-6"
ヴィンテージ: 1996
Wafer inspection system, 2"-6" 1996 vintage.
KLA/TENCOR 4500 SURFSCANは、集積回路(IC)ウェハにおける微細構造特性の正確な検出と解析を提供する高度なウェハテストおよび計測機器です。このシステムは、3Dスキャン技術を使用して、電気性能、回路アーム測定、はんだ付け性など、さまざまなパラメータのウェーハを検査します。このタイプの分析により、製造メーカーは重要な歩留まり問題を迅速に特定して解決することができます。KLA 4500 SURFSCANユニットには、強力な3Dスキャンおよび分析機能が搭載されているため、さまざまなウェハテストアプリケーションに対応する汎用性の高いソリューションです。このマシンは、最大300個のウエハを極めて詳細にスキャンすることができ、数百、数千ナノメートルまでの機能を測定することができる光学検査機能を内蔵しています。さらに、このツールの高速スキャン機能により、迅速なスループットと迅速なテストのターンアラウンドタイムを実現します。このアセットはまた、ウェーハの高解像度イメージングを提供し、電気的および光学的欠陥、およびその他の潜在的な微細構造上の問題を特定します。オンボードソフトウェアスイートは、統計分析とレポート機能を提供し、改善と是正措置の領域を特定するために使用できます。TENCOR 4500 SURFSCANは、堅牢で信頼性の高いアーキテクチャを備え、さまざまな生産環境で使用できるように設計されています。また、冗長電源装置と連続サイクルタイムモニタリングを搭載し、最高レベルの性能と信頼性を確保しています。さらに、このシステムには包括的な自動測定アルゴリズムが付属しており、さまざまな種類のデバイスで重要なパラメータをテストすることができます。全体として、4500 SURFSCANは、高精度の3Dスキャンと高度な分析機能を組み合わせた高度なウェハテストおよび計測ユニットです。この組み合わせにより、さまざまなデバイスパラメータと微細構造問題の迅速なスループットと包括的な分析が可能になります。堅牢で信頼性の高いアーキテクチャを備えたこのマシンは、大量生産環境での使用に適しており、ウェーハテストと計測に最適なプラットフォームです。
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