中古 KLA / TENCOR 1050 #9151487 を販売中

KLA/TENCOR 1050は、半導体製造プロセスの検査および分析に使用されるウェーハ試験および計測機器です。このシステムは、フォトマスク欠陥、膜厚、線幅、およびマイクロ欠陥などの半導体特性を正確かつ迅速に測定します。KLA 1050は、大量の半導体生産に適した多くの機能を備えています。高解像度のカラーイメージングとレーザー顕微鏡を備え、ウェハの地形や表面の特徴を正確に検査できます。このユニットはまた、検査プロセスを効率的かつ信頼性の高いものにする幅広い測定ツールを提供します。これらには、膜厚、線幅、および微小欠陥を迅速かつ正確に測定するために設計された計測モジュールが含まれます。TENCOR 1050は、高解像度の光学顕微鏡を使用して、特定のウエハを素早く画像化し、パターンとプロファイルの検証を行います。この顕微鏡の電動ステージは、イメージングと解析のための迅速かつ正確なx-y-z位置決めを提供します。また、特許取得済みの"Z-Contrast'イメージング技術を搭載しており、ウェハ表面の微細な特徴や欠陥を検出するための光電化と呼ばれるプロセスを利用しています。1050のウェーハテストツールは、KLA FieldViewソフトウェアによって駆動され、画像解析のためのユーザーフレンドリーで直感的なインターフェイスを提供します。また、KLA/TENCOR 1050は、膜厚やその他の計測パラメータの自動計算を可能にする統合計測ツールボックスを備えています。この資産には、将来の分析のためにさまざまな測定値を収集して保存する機能もあります。全体として、KLA 1050は効率的で高精度なウェーハテストおよび計測モデルです。カラーイメージング、レーザー顕微鏡、自動測定ツールなど、幅広い機能を備えており、半導体の特性を迅速かつ正確に測定できます。したがって、TENCOR 1050は半導体製造業界の大量生産に最適です。