中古 KIC THERMAL SlimKIC II #114986 を販売中

KIC THERMAL SlimKIC II Impulse Wafer Testing and Metrology Equipmentは、高速ウェハテスト用に設計された先進的な赤外線スキャナです。赤外線カメラ、垂直スキャンステージ、精密ポジショナーで構成されています。高解像度カメラは、最新の技術を使用して、接触せずに試料からデジタルデータを収集し、迅速かつ正確な計測を可能にします。精密ポジショナーにより、測定前に試験片をステージ上に正確に配置することができます。垂直スキャンステージは、高速で高精度なスキャン機能を提供します。SlimKIC IIユニットは、検査中にウェーハの異常を迅速かつ確実に検出するように設計されています。画像解析アルゴリズムを使用して、主要欠陥とマイナー欠陥の両方を迅速に特定します。機械は引込められた破片、橋渡し、傷、および接合部の損傷のような小さい表面の欠陥を検出することができます。このツールの高度なイメージング機能により、サンプル表面の温度変動を検出し、熱測定信頼性を効率的に管理することができます。KIC THERMAL SlimKIC IIアセットは、ステップ高さ測定、平坦度およびマイクロジオメトリ測定、および抵抗測定など、幅広い計測アプリケーションをサポートします。その光学顕微鏡の機能は比類のないものであり、微細な表面構造とコントラストの違いを測定することができます。シリコンなど半導体材料をはじめとする様々な材料を調べることができ、迅速かつ効率的な試験が可能です。SlimKIC IIモデルは信頼性が高く使いやすいです。温度制御された環境で迅速かつ正確な試験を行い、正確で再現性のある測定結果を得ることができます。また、機器の柔軟性が高く、試験セットアップを迅速かつ簡単に変更することができます。KIC THERMAL SlimKIC II Impulse Wafer Testing and Metrology Systemは、高度な技術、直感的な制御、優れた性能を備え、精度と精度を備えた高速ウェハテストを実行するための理想的な選択肢です。このユニットは、任意の実験室や生産施設にとって非常に貴重な資産であり、そのコスト効率はそれを優れた価値にします。