中古 KEYENCE LK-3101 #9178518 を販売中

KEYENCE LK-3101 Wafer Testing and Metrology Equipmentは、幅広い産業用途向けの高度な計測ソリューションです。迅速で非接触の3Dテスト、欠陥および形状測定機能と、ユーザーフレンドリーで直感的に操作できるグラフィカルユーザーインターフェイスを組み合わせています。ウェーハテストと計測システムLK-3101、 Q-Nulledラジアルアライメントを含む、ウェーハのテスト用に特別に設計された一連の高度な技術を備えており、ウェーハ上のすべてのテストポイントが正確に配置され、最高の精度を保証します。さらに、ウェーハの厚さや薄膜などの特性を迅速かつ非破壊的に測定する干渉検査を搭載しています。また、高度なセグメンテーションツールにより、ウェーハ上の小さな特徴を検出して素早く正確な測定を行うことができ、ウェーハの平面をウェーハの向きに関係なく正しく認識するアライメントツールも備えています。これにより、あらゆるサイズと形状のウェーハで最高の精度を保証します。ウェーハ上の欠陥の測定に加えて、KEYENCE LK-3101 Wafer TestingおよびMetrology Assetのソフトウェアは、データの統一と並べ替え、欠陥の分離、特徴の測定、データの圧縮、輪郭と3D表面プロファイルの作成など、多くの高度な機能を提供します。データは、2Dや3D画像などのさまざまなグラフィックス形式で表現することもでき、モデルはデータベースやその他の外部ソフトウェアアプリケーションにリンクすることもできます。LK-3101 Wafer Testing and Metrology Equipmentは、信頼性が高く正確で高速なウェーハテストソリューションを必要とするあらゆるアプリケーションに適しています。また、プログラミング言語用エディタやグラフィカルユーザーインターフェイス用のAdvanced Graphics Libraryなどの追加オプションでアップグレードすることもできます。システムの高いスループットと優れた結果の提供により、今日市場で入手可能な最も先進的な計測ソリューションの1つです。