中古 KEM / KOKUSAI VR-120S #9099745 を販売中

KEM/KOKUSAI VR-120Sは、デバイスの特性評価、テスト、分析の出力を最大化するように設計された最新のウェハテストおよび計測機器です。半導体デバイスの電気的、光学的、機械的特性を正確に測定することができます。KEM VR-120Sは、非接触レーザープロファイロメトリー、Colruyt変位センサー、原子力機械顕微鏡などのユニークな技術を取り入れており、デバイスの構造、設計および動作ドライバをより深く正確に理解できます。このシステムは、ウェーハの試験と計測を可能にするために協力するさまざまなコンポーネントで構成されており、半導体デバイスの物理的属性を複雑に分析することができます。KOKUSAI VR-120Sは、光学材料特性評価ユニット、非接触レーザプロファイロメータ、colruyt変位センサ、フレキシブルアライメントマシンを備えています。この組み合わせは、半導体デバイスの構造と特性に関するデータを得るための高い柔軟性と精度を提供します。したがって、このツールは、高分解能で半導体の静的、動的、電気的特性を測定することができます。この光学材料特性評価アセットにより、研究者は光学材料特性を高い精度で測定することができます。これは、サンプルに光学ビームを配置して焦点を合わせることができ、関連する信号を利用してデバイスの構造と特性に関する情報を得ることができます。さらに、非接触レーザプロフィロメータにより、デバイス部品に関連する2次元の地形および表面プロファイルのデータをキャプチャおよび分析することができます。フレキシブルなアライメントモデルにより、ウェーハの正確かつ再現性の高い位置決めと処理が可能になり、データ収集の効率と精度が向上します。また、Colruyt変位センサを搭載しており、サンプルポイント数が限られている表面プロファイルを高速に測定できます。これにより、短時間で表面の不均一性や欠陥を検出することができます。VR-120Sは、電子部品を特性評価し、正確なウェーハ試験と計測を行うための理想的なツールです。強力で精密な技術を組み合わせることで、電気的、光学的、機械的特性を正確に測定することができ、詳細なデータが得られます。この装置は、デバイスの構造と運用性能を評価および最適化することができる優れた製品です。