中古 JORDAN VALLEY JVX 7300 #9383216 を販売中

ID: 9383216
Film thickness measurement system, 12" Optics non functional.
JORDAN VALLEY JVX 7300は、研究および産業用途に適した最先端のウェーハ試験および計測機器です。高い精度と安定性を提供し、半導体ウェーハの試験および分析に幅広いオプションを提供します。このシステムは、スキャンとテストの両方の機能を提供するベースユニットと、高解像度イメージング用の光学顕微鏡で構成されています。スキャンは、ウェーハ表面全体を高速かつ正確にスキャンする高精度のフライスカンステージによって提供されます。また、モーター式のXYステージも備えており、スキャンヘッドとウェーハを素早く正確にアライメントできます。スキャンおよびテスト機能に加えて、JVX 7300にはさまざまな計測ツールと属性があります。これは、ウェーハの物理的特性をキャプチャし、分析することができる高解像度CCDカメラを含みます。また、ウェーハ表面の既存の地形をさまざまな波長で画像化する光源と、幅広い統計とパラメータの測定、分析、比較に使用できるソフトウェアパッケージも含まれています。マシンのハードウェアコンポーネントは、高度なソフトウェアスイートによって補完され、機器の機能をさらに強化するためのさまざまなツールと機能を提供します。これには自動データロガーが含まれており、ユーザーはツールの設定を保存、監視、調整し、結果の詳細なレポートを提供することができます。このスイートには、生成された画像を表示および比較する機能も含まれており、技術者にさらなる分析レイヤーを提供します。最後に、JORDAN VALLEY JVX 7300は、USBポートとイーサネットポートの両方を含む幅広い接続オプションも提供しています。これにより、資産にリモートからアクセスできるようになり、データの共有と共同ネットワークの作成が可能になります。つまり、JVX 7300は正確で汎用性の高いウェーハテストと計測モデルを提供します。包括的なハードウェアおよびソフトウェアコンポーネントを備えたこの機器は、さまざまな種類のウェーハの分析と比較のための包括的で効率的なプラットフォームをユーザーに提供します。
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