中古 JMAR Mirage #9250464 を販売中

JMAR Mirageウェハテストおよび計測機器は、サンプルの特性評価に使用される高度な計測システムです。このユニットは、光学測定と分光測定の両方を可能にするユニークな計測設計を備えています。この光学構成には、10バンドの線形分光計と反射スペクトルを測定するための反射計が含まれています。分光構成には、カスタマイズ可能な偏光計と光学顕微鏡が含まれます。ミラージュマシンは、半導体ウェーハ、患者基板、誘電体コーティングなどの誘電材料の特性評価など、さまざまな用途に使用できます。また、FTIRイメージング、偏光測定、蛍光測定、レーザー誘導分光法（LIBS）などの高度な測定が可能です。このツールの4軸サンプルステージでは、サンプルの位置、向き、動作範囲を正確に測定できます。Mirageには、精密な角度測定のための校正スタンド、レーザーベースのプロフィロメーター、精密なイメージングと測定のための自動イメージングなど、さまざまな自動校正技術が搭載されています。高度な計測機能に加えて、JMAR Mirageには、テストデータを制御および分析するための一連のソフトウェアツールが含まれています。ユーザーフレンドリーなMirageコントロールパネルは、インストゥルメントパラメータをすばやくナビゲートし、すべてのテスト機能を制御するためのフルカラーのインタラクティブ環境を提供します。関連するソフトウェアを使用して、テストデータを保存および分析し、包括的なデータレポートを作成できます。自動アセットの速度を必要とするラボアプリケーションでは、JMAR Mirageを自動ウェハハンドリングモデルと組み合わせて使用できます。これにより、手動で介入することなくサンプルを移動させることができ、サンプルの特性評価を自動的に行うことができます。ウェハハンドリング構成により、さまざまなウェハサイズ、サンプルフォーマット、スキャン速度が可能です。Mirageは、サンプル分析と特性評価のための高度で信頼性の高い機器を提供します。その信頼性の高い設計と幅広い測定機能により、実験室試験、特性評価、研究に最適です。